景颐光电喜迎客户(图)-国产光学膜厚仪-南京光学膜厚仪

光学膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

涂层膜厚仪工作原理及校验方法

涂层膜厚仪作为检测涂层厚度的仪器，在管控涂层厚度质量的品质中起着至关重要的作用，大多数的用户对于涂层膜厚仪的工作原理及校验方法还不是很了解。本文为大家介绍了涂层膜厚仪的工作原理及校验方法，感兴趣的用户可以看看。

目前市面上常用的铝基涂层膜厚仪以及铁基涂层膜厚仪主要用于的就是涡流法以及磁性法。

涡流检测方法和用于金属加热、感应淬火的感应加热技术有某些相似指出。例如，都是根据电池感应原理，反射光学膜厚仪，使放在一个或几个感应线圈里面或附近的零件中感应出涡流来。热由于I*2R产生的，这是零件中涡流所引起的损失。

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关于膜厚测量仪的介绍

景颐光电新款膜厚测量仪FILMTHICK-C100利用光干涉原理，机械结构集成的进口卤钨灯光源，使用寿命超过20000小时，紧凑设计保证了测量的高度准确性和可重复性。

通过内嵌式微处理器控制，小型光谱仪，光谱范围200NM -250ONM（波长范围根据配置选择)，分辨精度可达3648像素，16位级A/D分辨精度。配有USB通讯接口。FILMTHICK对样品进行非接触式、无损、高精度测量，非接触光学膜厚仪，可测量反射率、颜色、膜厚等参数。

可应用于光伏、半导体材料、高分子材料等薄膜层的厚度测量，在半导体、太阳能、液晶面板和光学行业以及科研所和高校都得到广泛的应用。

OPTICAFILMTEST光学膜厚测量软件采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法，半导体光学膜厚仪，包含了类型丰富的材料折射率数据库，开放式材料数据库，有效地协助用户进行测试分析，测量期间能实时显示干涉、FFT波谱和膜厚等趋势。

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测厚仪膜厚仪检测镀层厚度的原理

磁性测厚法是利用被测试样与标准磁体之间的吸引力的变化来转换成镀层的厚度。这种方法只能适用于对磁性能敏感的基体上的非磁性镀层，如钢铁基体上的铜、锌、锡等镀层。钢件上的镍镀层就不能很好地测量出结果。      

磁性测厚法的优点是对钢铁基体上的非磁性镀层提供了一种快速的测量方法，其准确度可达85%-90%。测量样件的粗糙度对测量结果有影响。

如果被测件的基体很薄时，比如样片厚度低于0.25mm时，南京光学膜厚仪，会有较大测量误差，这时可以在样片后另加一个与基体材料相同的厚一些的无镀层材料来减少误差。      

磁性法的缺点是受磁性能要求的限制，所以适应于该方法的基体材料和镀层有限。

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