膜厚检测仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
半导体膜厚测试仪
X射线发生系统采用了聚光导管
由于采用了X射线聚光导管方式，可得到以往十倍以上的X射线强度，从而可以提高微小样品的膜厚测量及***物质测量的精度。
无需液氮的半导体检测器
在进行薄膜测量与***物质的浓度测量时，高分辨率的检测器是的，不但可以达到高分辨率，膜厚检测仪批发，而且可以实现高计数率。同时，由于使用了电子冷却方式，所以无需液氮。
能谱匹配软件
可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。
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光谱膜厚测厚仪概念及性能优势
光谱膜厚测厚仪，采用下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价高、适用性强的机型。该系列仪器适用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。
光谱膜厚测厚仪概念
凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量，如金属类、塑料类、陶瓷类、玻璃类。
可以对各种板材和加工零件作准确测量，膜厚检测仪价格，另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。
广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。
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涂层膜厚仪特性：
1)搭载微聚焦加强型X射线发生器和***的光路转换聚焦系统;
2)拥有无损变焦检测技术，手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm;
3)EFP算法，可对多层多元素，包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析(钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB，膜厚检测仪厂家，检测层Ni和第三层Ni的厚度);
4)配备高精密微型移动滑轨，可实现多点位、多样品的位移和同时检测;
5)可同时分析23个镀层，24种元素，莱芜膜厚检测仪，测量元素范围：氯Cl(17)- 铀U(92)，涂镀层分析范围：锂Li(3)- 铀U(92)，涂镀层检出限：0.005μm;
6)人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作;
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