膜厚测量———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
膜厚测量仪
膜厚测量仪可以对样品进行非接触式、无损、高精度测量。
产品特性
1、非接触
2、快速、无损
3、高精度
4、进口(WELCH ALLYN)长寿命卤钨灯光源
5、多种高精度算法
6、开放式数据库
应用领域
半导体(硅，膜厚测量厂家，单晶硅，多晶硅)、高分子材料薄膜、液晶显示屏测量、汽车玻璃、光学镀膜测量、聚合物涂料、太阳能电池薄膜测量
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涂层膜厚仪校验方法
涂层膜厚仪常用的校验方法就是零点校准以及多点校准。
1.零点校准：就是在该产品的金属底材（无涂层的基体）上进行归零校准。
（1）选定一块调零板，调零板就是无涂层的金属底材。（由于工件表面粗糙度不同，调零后，常州膜厚测量，再测不一定是的零位，这属于正常现象。）
（2）在一起的侧单界面，选择校准，然后零位校准，然后将探头垂直并平稳地紧压在基体上，一起会自动进行零位校准。
（3）重复上述的1、2步骤，膜厚测量哪家好，就可以可以获得更加的零点，膜厚测量价格，提高测量精度。
2.多点校准：使用标准片来进行校准，这种校准方法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。
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影响涂层膜厚仪测量精度的因素
1.基体金属磁性
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为时轻微的）。为了避免热处理、冷加工等因素的影响，应使用与试件金属具有相同性质的铁基片对仪器进行校准。
2.基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。
3.边缘效应
本仪器对试片表面形状的陡变敏感。因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
4.曲率
试件的曲率对测量有影响，这种影响总是随着曲率半径的减小明显地增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。
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