光谱仪的工作原理
元素的原子在激发光源的作用下发射谱线，谱线经光栅分光后形成光谱，每种元素都有自己的特征谱线，谱线的强度可以代表试样中元素的含量，高利通光谱仪用光电检测器将谱线的辐射能转换成电能。检测输出的信号，经加工处理，在读出装置上显示出来。然后根据相应的标准物质制作的分析曲线，得出分析试样中待测元素的含量。
对测量准确程度不高的解决办法
测量准确程度不高也是较为多见的问题之一。若检测出的结果和实际结果的偏差较大，极有可能是因为分析方法的使用不当、样品处理过程中出现了污染损失以及干扰元素的影响没有完全性消失造成的。针对这些问题的出现，可以在实际的试验过程中对其进行针对性的解决。例如可以使用纯度较高的***进行试验，并且注意到对样品空白实施较为完善的处理，上海全自动荧光光度计，并使用较好的消除干扰的方法把相关干扰因素消除。另外的原因则是工作曲线的选择不合理，无法符合检查的相关要求。若样品不在曲线范围之内，可以将稀释倍数以及称量倍数等因素和工作曲线进行联合分析。若符合其要求则可较好的对这一问题进行解决。但需注意的是，若工作曲线的线性不好，需要注意到仪器污染和容器污染等因素，选择干净器皿，全自动荧光光度计标准，消除这种情况的出现。
“AFS”的原理
原子荧光光谱法(atomic flurescenc spectrometry，AFS)是一种基于测量原子蒸气吸收特定辐射被激发后去激发所发射出的特征谱线强度进行定量的元素痕量分析的发射光谱分析法，是在20世纪60年代中期提出并迅速发展起来的一种新型痕量光谱分析方法，是原子光谱法中的一个重要分支。原子荧光光谱法所用仪器与原子吸收光谱法相近。
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