半导体膜厚检测仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
半导体膜厚测试仪
能谱匹配软件
可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。
块体检量线软件（适用于电镀液分析）
可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。
绘图软件（选配件）
将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。
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涂层膜厚仪的测量原理及选择方法
随着国产涂层膜厚仪的越做越好，很多用户都选择了国产的仪器。涂层膜厚仪是用于无损测量金属基体或者非金属基体表面涂层厚度的仪器。
1、磁性测量原理的涂层膜厚仪
磁性金属基体表面的涂层厚度与磁阻和磁通之间存在着一定的关系。可以利用这一关系来计算磁性金属基体表面的涂层厚度。利用测头经过非磁性涂层流入磁性金属基体的磁通的大小来测量涂层的厚度。一般情况下基体表面的涂层越厚，半导体膜厚检测仪批发，则磁阻越大磁通量就越小。
2、电涡流测量原理的涂层膜厚仪
简单来说，就是利用高频交流信号在测头线圈中会产生电磁场，当测头靠近导体(一般为金属)时会形成涡流。而涡流的大小与测头和导电基体之间的距离存在一定关系，当测头距离导电基体越近时涡流会越大，反射阻抗也会越大。
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膜厚测试仪
膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，深圳半导体膜厚检测仪，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。
手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。
台式的荧光X射线膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。
采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。
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