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涂层膜厚仪标准片选择与使用
使用可靠的参考标准块校准仪器。测量不确定度直接取决于校准标准块的测量不确定度和测量精度。
参考标准块应具有的已知单位面积质量或厚度的均匀的覆盖层，如果是合金，则应知其组成。参考标准块的有效或限定表面的任何位置的覆盖层不能超过规定值的±5%。
只要用于相同的组成和同样或已知密度的覆盖层，规定以厚度为单位（而不是单位面积质量）的标准块，将是可靠的。合金组成的测定，校准标准不需要相同，但应当已知。
金属箔标准片。如果使用金属箔贴在特殊基体表面作标准片，就必须注意确保接触清洁，光谱膜厚仪批发，无皱折纽结。任何密度差异，除非测量允许，否则必须进行补偿后再测。
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膜厚测试仪的基本工作原理
膜厚仪又叫膜厚测试仪，符合了（GB/T 4957-2003）中的涡流法以及（GB/T 4956-2003）中的磁性法等相关标准。
其中涡流测厚的原理，武汉光谱膜厚仪，是利用高频交变电流在线圈中产生的电磁场，当测头和覆盖层接触时，金属基体上就会产生电涡流。并且会对测头中的线圈产生了反馈的作用，然后通过测量反馈作用的大小来导出覆盖层的厚度。
涡流测厚原理的膜厚仪，适用于非磁性金属基体上（铜、铝、黄铜等）非导电涂层的测量（如涂料、阳极氧化层等）。如航天航空器表面、车辆等及其它铝制品表面的油漆，阳极氧化膜等。
而磁性测厚的原理，是当测头和覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成的一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，会使磁路磁阻发生变化，根据变化就可以测出涂层的厚度。
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涂层膜厚仪校验方法
涂层膜厚仪常用的校验方法就是零点校准以及多点校准。
1.零点校准：就是在该产品的金属底材（无涂层的基体）上进行归零校准。
（1）选定一块调零板，调零板就是无涂层的金属底材。（由于工件表面粗糙度不同，光谱膜厚仪价格，调零后，再测不一定是的零位，这属于正常现象。）
（2）在一起的侧单界面，选择校准，然后零位校准，然后将探头垂直并平稳地紧压在基体上，一起会自动进行零位校准。
（3）重复上述的1、2步骤，就可以可以获得更加的零点，提高测量精度。
2.多点校准：使用标准片来进行校准，这种校准方法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。
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