石家庄膜厚分析仪-景颐光电热情服务-光谱膜厚分析仪

膜厚分析仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

影响涂层膜厚仪测量精度的因素

附着物质

仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，石家庄膜厚分析仪，以保证探头与覆盖层表面直接接触。

探头压力

探头置于试件上施加的压力大小会影响测量的读数。因此本仪器探头用弹簧保持一个基本恒定的压力。

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涂层膜厚仪的测量原理及选择方法

随着国产涂层膜厚仪的越做越好，非接触式膜厚分析仪，很多用户都选择了国产的仪器。涂层膜厚仪是用于无损测量金属基体或者非金属基体表面涂层厚度的仪器。

1、磁性测量原理的涂层膜厚仪

磁性金属基体表面的涂层厚度与磁阻和磁通之间存在着一定的关系。可以利用这一关系来计算磁性金属基体表面的涂层厚度。利用测头经过非磁性涂层流入磁性金属基体的磁通的大小来测量涂层的厚度。一般情况下基体表面的涂层越厚，则磁阻越大磁通量就越小。

2、电涡流测量原理的涂层膜厚仪

简单来说，就是利用高频交流信号在测头线圈中会产生电磁场，当测头靠近导体(一般为金属)时会形成涡流。而涡流的大小与测头和导电基体之间的距离存在一定关系，当测头距离导电基体越近时涡流会越大，反射阻抗也会越大。

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膜厚检测仪的使用方法：

测定准备

（1）确保电池正负极方向正确无误后设定。

（2）探头的选择和设定：在探头上有电磁式和涡电流式2种类型。对准测定对象，在本体上进行设定。

测定方法

（1）探头的选择和安装方法：确认电源处于OFF状态，与测定对象的质地材质接触，安装LEP-J或LHP-J。

（2）调整：确认测定对象已经被调整。未调整时要进行调整。

（3）测定：在探头的末端加一定的负荷，即使用[一点接触定压式]。抓住与测定部接近的部分，光谱膜厚分析仪，迅速在与测定面成垂直的角度按下。

下述的测定，每次都要从探头的前端测定面开始离开10mm以上。使用管状的东西连续测定平面时，如果采用探头适配器，可以更加稳定地进行测定。

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