CT检测面探测器
面探测器主要有三种类型：高分辨半导体芯片、平板探测器和图像增强器。半导体芯片又分为CCD和CMOS。CCD对X射线不敏感，表面还要覆盖一层闪烁体将X射线转换成CCD敏感的可见光。
半导体芯片具有小的像素尺寸和大的探测单元数，CT检测，像素尺寸可小到10微米左右，CT检测方案，探测单元数量取决于硅单晶的大尺寸，一般直径在50mm以上。因为探测单元很小，信号幅度也很小，为了增大测量信号可以将若干探测单元合并。
CT检测分立探测器
工业CT所用的探测器有两个主要的类型—分立探测器和面探测器。而分立探测器常用的X射线探测器有气体和闪烁两大类。
气体探测器具有天然的准直特性，限制了散射线的影响，几乎没有窜扰，且器件一致性好。缺点是探测效率不易提高，高能应用有一定限制。其次探测单元间隔为数毫米，对于有些应用显得太大。
CT检测X射线管
X射线管的设计有两种形式：开放管和闭合管。开放管顾名思义是开放式的，“这种技术要求在射线管内建立一定的真空度，利用两级真空泵不间断地运行来维持真空。”在这个过程中，大量的热量从射线管被转移到工作舱内。在某型情况下，工作舱内的温度甚至可高达60~70℃。而在闭合管上，热量由于被封闭在管内，CT检测机构，不容易转移到工作舱内。而进一步配以合适的冷却系统（根据功率高低采用空冷或液冷），这一问题会得到较好的解决。所以
当选择X射线管形式时，要注意几个方面的因素，其中一个便是射线管的热量传导。
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