




荧光膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
影响涂层膜厚仪测量精度的因素
表面粗糙度
基体金属何覆盖层的表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差何偶然误差。
每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,盐城荧光膜厚仪,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,还必须在未的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用没有腐蚀性的溶液除去基体金属覆盖层,再校对仪器的零点。
磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测量厚度的工作。
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膜厚测试仪应该如何选择?
随着人们生活水平的提升和制造业的发展,业内对于材料的要求也逐渐,光学荧光膜厚仪,市场上的涂镀层种类也不断增加,对于材料加工和质量有了更高的需求。这种情况下选择一个性价高的膜厚测试仪就显得非常重要。那么如何才能选择到合适的膜厚测试仪进行测量材料镀膜涂镀层呢?
一、磁性式
泛用于磁性金属底材上(铁、钢)的非磁性单层膜厚,如铁上镀锌、染黑、烤漆等。
二、涡电流式
泛用于非铁系金属底材上的绝缘性膜厚,国产荧光膜厚仪,如铝上阳极处理,非接触式荧光膜厚仪,烤漆等。
三、红外测厚仪
泛用于检测无机涂层、超薄涂层和复合薄膜的仪器,主要用于钢板上氧化表膜的厚度检测如SiO2、磷化物;薄膜上聚硅酮涂层厚度检测及复合薄膜的各层厚度检测等。
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影响涂层膜厚仪测量精度的因素
1.基体金属磁性
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为时轻微的)。为了避免热处理、冷加工等因素的影响,应使用与试件金属具有相同性质的铁基片对仪器进行校准。
2.基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。
3.边缘效应
本仪器对试片表面形状的陡变敏感。因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
4.曲率
试件的曲率对测量有影响,这种影响总是随着曲率半径的减小明显地增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。
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