石英晶体膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
影响涂层膜厚仪测量精度的因素
表面粗糙度
基体金属何覆盖层的表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差何偶然误差。
每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，舟山石英晶体膜厚仪，还必须在未的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用没有腐蚀性的溶液除去基体金属覆盖层，再校对仪器的零点。
磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，国产石英晶体膜厚仪，会严重地干扰磁性法测量厚度的工作。
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光谱膜厚测量仪常用类型及准确操作的小技巧
基体金属特性对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
检查基体金属厚度是否超过临界厚度，无损检测 如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。
不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。不应在试件的弯曲表面上测量。
通常由于光谱膜厚测量仪的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
测量前，应表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，石英晶体膜厚仪哪家好，但不要除去任何覆盖层物质。
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涂层膜厚仪标准片选择与使用
使用可靠的参考标准块校准仪器。测量不确定度直接取决于校准标准块的测量不确定度和测量精度。
参考标准块应具有的已知单位面积质量或厚度的均匀的覆盖层，如果是合金，则应知其组成。参考标准块的有效或限定表面的任何位置的覆盖层不能超过规定值的±5%。
只要用于相同的组成和同样或已知密度的覆盖层，规定以厚度为单位（而不是单位面积质量）的标准块，石英晶体膜厚仪厂家，将是可靠的。合金组成的测定，校准标准不需要相同，但应当已知。
金属箔标准片。如果使用金属箔贴在特殊基体表面作标准片，就必须注意确保接触清洁，无皱折纽结。任何密度差异，除非测量允许，否则必须进行补偿后再测。
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