




半导体膜厚测量仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
为什么要控制涂层厚度?在涂料检验过程中,半导体膜厚测量仪厂家,漆膜厚度是一项很重要的控制指标。由于漆膜的厚度不匀或涂装层数不合理,半导体膜厚测量仪价位,均将对涂层性能产生很大的影响。一定厚度的涂层,可以一次形成,也可以多次形成。实践经验表面,大多数涂料以每次薄涂,涂装多次为宜。涂装多次所形成的漆膜,要比涂装一次形成同样厚度的漆膜性能好些,这是因为薄的涂层干燥条件好,干燥时的内应力小,附着力好,半导体膜厚测量仪价格,涂层太厚时,驻马店半导体膜厚测量仪,不仅干燥的内应力大,而且易于起皱和发生其他的病态。
实际上,除了聚酯漆外,其余涂料一次涂装也不可能涂成很厚的涂层,如刷涂过后,易起皱,垂直表面易流挂;喷涂时,由于雾化得很细,就不可能一次喷厚;辊涂时,如涂层太厚,涂料易被涂漆辊压出板件边缘之外。
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光学膜厚测量仪
光学膜厚仪是通过测量一定波长内光线垂直入射到样品表面时,薄膜表面的反射光来测量薄膜的厚度、粗糙度及光学常数。由于光学测量膜厚方法准确、无***,且光谱反射法比椭偏仪操作简单、测试速度快,适合测量具有结构的薄膜。
设备性能指标:
1、测量薄膜厚度范围:4nm~30um(使用10x、15x物镜,样品折射率为1.5左右时,4nm~2um(使用40x物镜);
2、测试面积:光栏尺寸(250um)/物镜倍率;
3、该设备显微镜物镜:5x、10x、15x、40x。其中5x物镜用于寻找测试区域,10x和15x物镜用于测试薄膜厚度;
4、40x物镜用于测试厚度低于2um的薄膜厚度;
5、测试精度:测试膜层总厚度的0.2%或2nm中的较大者;
6、光源:灯、钨灯;
7、测试波长范围:190nm~1100nm;
8、大测试样品尺寸:8寸。
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关于膜厚测量仪的介绍
景颐光电新款膜厚测量仪FILMTHICK-C100利用光干涉原理,机械结构集成的进口卤钨灯光源,使用寿命超过20000小时,紧凑设计保证了测量的高度准确性和可重复性。
通过内嵌式微处理器控制,小型光谱仪,光谱范围200NM -250ONM(波长范围根据配置选择),分辨精度可达3648像素,16位级A/D分辨精度。配有USB通讯接口。FILMTHICK对样品进行非接触式、无损、高精度测量,可测量反射率、颜色、膜厚等参数。
可应用于光伏、半导体材料、高分子材料等薄膜层的厚度测量,在半导体、太阳能、液晶面板和光学行业以及科研所和高校都得到广泛的应用。
OPTICAFILMTEST光学膜厚测量软件采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法,包含了类型丰富的材料折射率数据库,开放式材料数据库,有效地协助用户进行测试分析,测量期间能实时显示干涉、FFT波谱和膜厚等趋势。
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