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反射膜厚测试仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

区分涂层测厚仪与无损涂层测厚仪关键性在于哪些方面

涂层测厚仪与无损涂层测厚仪的差别，重要如下所述。涂层测厚仪跟无损涂层测厚仪，反射膜厚测试仪哪家好，都是用来丈量资料名义厚度的，然而涂层测厚仪与无损涂层测厚仪之间存在必定的差别。下面咱们详细来先容涂层测厚仪与无损涂层测厚仪的差别。

涂层测厚仪与无损涂层测厚仪的差别：

涂层测厚仪，重要用在名义处置行业，是用来丈量金属或塑胶名义的涂层厚度。

无损涂层测厚仪，分为磁性跟涡流两种，也有磁性涡流二合一两用型的。常用于丈量底材是金属的名义镀层的厚度，以是也叫做镀层测厚仪。

磁性测厚仪专丈量磁性金属如钢铁下面镀层厚度(镀层除磁性金属，如钢铁、镍以外)，非磁性的铜、铝、锡等下面的镀层就测不了。涡流测厚仪专丈量非磁性金属，比方铜、铝等下面的绝缘层厚度(涂层必需长短导电资料)。

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影响涂层膜厚仪测量精度的因素

1.基体金属磁性

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为时轻微的）。为了避免热处理、冷加工等因素的影响，应使用与试件金属具有相同性质的铁基片对仪器进行校准。

2.基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。

3.边缘效应

本仪器对试片表面形状的陡变敏感。因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

4.曲率

试件的曲率对测量有影响，这种影响总是随着曲率半径的减小明显地增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。

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光学膜厚仪的应用

光学膜厚仪广泛应用于各种薄膜，并且还有半导体液晶显示器等一系列的材料和产品的测量。一般的产品我们可以拿尺来进行测量，对精度要求也不高。但是对薄膜等产品来说，精度是关系到产品的组装和性能的，所以一定要测量。测量仪功能不能能够准确的进行测量，反射膜厚测试仪厂家，还能及时的显示出数据。

其次可以计算薄膜厚度，一般采用光干涉法，薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉，干涉的发生与膜厚及折光系数等有关，因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、快速的光学薄膜厚度测量技术，我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。

再次，就是操作方便，效率较高。这种优势对于薄膜测试的时候是非常重要的，莱芜反射膜厚测试仪，毕竟薄膜测试是一种比较枯燥的工作，如果测试又比较繁杂的话，会使人心情焦躁，难免会影响测试时间和测试结果。

而操作方便，容易上手，几秒钟内即可完成测量和数据分析，发展潜力巨大。

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