显微膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
影响涂层膜厚仪测量精度的因素
表面粗糙度
基体金属何覆盖层的表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差何偶然误差。
每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用没有腐蚀性的溶液除去基体金属覆盖层，再校对仪器的零点。
磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测量厚度的工作。
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膜厚测试仪的基本工作原理
膜厚仪又叫膜厚测试仪，反射式显微膜厚仪，符合了（GB/T 4957-2003）中的涡流法以及（GB/T 4956-2003）中的磁性法等相关标准。
其中涡流测厚的原理，是利用高频交变电流在线圈中产生的电磁场，当测头和覆盖层接触时，金属基体上就会产生电涡流。并且会对测头中的线圈产生了反馈的作用，然后通过测量反馈作用的大小来导出覆盖层的厚度。
涡流测厚原理的膜厚仪，光学显微膜厚仪，适用于非磁性金属基体上（铜、铝、黄铜等）非导电涂层的测量（如涂料、阳极氧化层等）。如航天航空器表面、车辆等及其它铝制品表面的油漆，阳极氧化膜等。
而磁性测厚的原理，是当测头和覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成的一闭合磁路，汕头显微膜厚仪，由于非磁性覆盖层的存在，会使磁路磁阻发生变化，根据变化就可以测出涂层的厚度。
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光谱膜厚测量仪常用类型及准确操作的小技巧
基体金属特性对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
检查基体金属厚度是否超过临界厚度，无损检测 如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。
不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。不应在试件的弯曲表面上测量。
通常由于光谱膜厚测量仪的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
测量前，应表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。
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