




非接触膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
影响涂层膜厚仪测量精度的因素
1.基体金属磁性
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为时轻微的)。为了避免热处理、冷加工等因素的影响,开封非接触膜厚仪,应使用与试件金属具有相同性质的铁基片对仪器进行校准。
2.基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。
3.边缘效应
本仪器对试片表面形状的陡变敏感。因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
4.曲率
试件的曲率对测量有影响,非接触膜厚仪价位,这种影响总是随着曲率半径的减小明显地增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。
欢迎咨询景颐光电了解更多非接触膜厚仪
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膜厚测量仪
膜厚测量仪可以对样品进行非接触式、无损、高精度测量。
产品特性
1、非接触
2、快速、无损
3、高精度
4、进口(WELCH ALLYN)长寿命卤钨灯光源
5、多种高精度算法
6、开放式数据库
应用领域
半导体(硅,单晶硅,多晶硅)、高分子材料薄膜、液晶显示屏测量、汽车玻璃、光学镀膜测量、聚合物涂料、太阳能电池薄膜测量
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光谱膜厚测量仪使用的注意事项
1.使用膜厚仪时,注意用手指握住凹槽部分。
2.用手指握住凹槽部分以后将探头垂直按压在被测物体表面,不要倾斜或者晃动。
3.测量时,不要选择边缘的区域。
4.工件表面粗糙度过大,附着物太多,不利于探头直接接触到被测物体表面,也会影响测量。因此测量之前,需要将被测物表面的附着物清理干净。
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非接触膜厚仪哪家好-景颐光电(在线咨询)-开封非接触膜厚仪由广州景颐光电科技有限公司提供。广州景颐光电科技有限公司是一家从事“激光雷达反射板,积分球,光纤光谱仪,透光率检测仪等光学仪器”的公司。自成立以来,我们坚持以“诚信为本,稳健经营”的方针,勇于参与市场的良性竞争,使“景颐光电”品牌拥有良好口碑。我们坚持“服务至上,用户至上”的原则,使景颐光电在光学仪器中赢得了客户的信任,树立了良好的企业形象。 特别说明:本信息的图片和资料仅供参考,欢迎联系我们索取准确的资料,谢谢!