北京Techcomp荧光光谱-泰科施普

荧光的主要用途与指标

主要用途

1.荧光激发光谱和荧光发射光谱

2.同步荧光（波长和能量）扫描光谱

3.3D（Ex Em Intensity)

4.Time Base和CWA(固定波长单点测量）

5.荧光寿命测量，包括寿命分辨及时间分辨

6.计算机采集光谱数据和处理数据（Datamax和Gram32)

类别 指标

仪器类别： 03030429 /仪器仪表 /成份分析仪器 /X荧光谱仪

指标信息：

激发光源 Xe 450W

激发单色仪：4nm/mm，200nm～700nm

发射单色仪：双色单仪，2nm/mm，300～1000nm

光谱测量范围：240nm～850nm

灵敏度：水喇曼信噪比4000：1（397nm/5nm bandpass)

寿命响应范围：10ps～10μs

荧光光谱仪

随着科学技术的进步，在60年代初发明了半导体探测器以后，对X-荧光进行能谱分析成了可能。能谱色散型X荧光光谱仪（ED-XRF），用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线（荧光）直接进入半导体探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析。

　　由于普通能量色散X荧光采用低功率X射线管，又采用滤光片扣除背景和干扰，其背景偏高，分辨率偏小，使得应用范围受到限制，Techcomp荧光光谱报价，特别是在轻元素的分析受到限制。随之X射线偏振器的诞生，产生了一款新型的能量色散X荧光光谱仪，既偏振式能量色散X荧光光谱仪ED（P）-XRF，再加上SDD探测器的使用，不仅提高了（相对使用正比计数管和Si（PIN）探测器的仪器）的分辨率，免去Si(Li)探测器使用液氮冷却的繁琐和***，填补了原来普通能量色散X荧光的轻元素检出限高，Techcomp荧光光谱代理商，分辨率差的缺陷，又使得（相对波长色散X荧光用户）购买和使用X荧光仪器的成本大大减低，这使得偏振式能量色散X荧光光谱仪ED（P）-XRF在分析领域的迅猛发展，Techcomp荧光光谱代理，越来越受到广泛关注。

荧光产率

荧光产率（φf）是荧光物质另一个基本参数，它表示物质发生荧光的能力，数值在0~1之间。荧光效率是荧光辐射与其他辐射和非辐射跃迁竞争的结果。 kf为荧光发射过程的速率常数，北京Techcomp荧光光谱， ∑ki为其他有关过程的速率常数总和。一般来说， kf主要决定于化学结构，而 ∑ki主要决定于化学环境，同时也与化学结构有关。荧光光谱已应用于很多不同领域，特别是需要无损、显微、化学分析、成像分析的场合。无论是需要定性还是定量的数据，荧光分析都能快速、简便地提供重要信息。