反射膜厚测量仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
影响涂层膜厚仪测量精度的因素及注意事项
涂层膜厚仪如今已经应用到各行各业当中，但是很多的用户在使用涂层膜厚仪时，并没有按照相应的规范进行操作，这样就会导致测量结果的不准确性。本文简单的介绍了涂层膜厚仪的工作原理。
1.磁性测厚原理：当测头与覆层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，反射膜厚测量仪厂家，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。
2.涡流测厚原理：利用高频交电流在线圈中产生一个电磁场，当测头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。
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影响涂层膜厚仪测量精度的因素
附着物质
仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，反射膜厚测量仪哪家好，以保证探头与覆盖层表面直接接触。
探头压力
探头置于试件上施加的压力大小会影响测量的读数。因此本仪器探头用弹簧保持一个基本恒定的压力。
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荧光膜厚仪介绍
X射线荧光(XRF)测厚仪，嘉兴反射膜厚测量仪，简称荧光测厚仪、荧光膜厚仪，是在很多领域被广泛应用的高精度仪器，那么什么是XRF呢? XRF，X射线荧光光谱分析法(X Ray Fluorescence)，利用初级X射线光子或其他微观察离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光而进行物质成分分析和化学态研究的方法。荧光膜厚仪又是什么呢？
荧光膜厚仪俗称X射线荧光测厚仪、荧光测厚仪、荧光膜厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等，主要用于精密测量金属电镀层的厚度。比如金属镀层检测，PCB线路板镀层分析等。
荧光膜厚仪原理是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
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