石英晶体膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
涂层膜厚仪注意事项：影响涂层膜厚仪测量结果准确性的因素有很多，如基体金属磁性质、电性质，基体厚度，边缘效应，曲率，粗糙度等等。因此，一定要选用同一形状（曲率）、同一材料、同样粗糙度的校准基体进行零点校准。
测厚仪要保持清洁，不要摔落，光谱石英晶体膜厚仪，避免与潮湿、具有化学腐蚀性的物质或气体接触。使用完毕，反射石英晶体膜厚仪，应把仪器放回具有保护性和便于挪动的盒子中。
温度的剧烈变化将影响测量结果，所以不能把仪器直接暴露在强烈的阳光下或温度骤变的环境中。
不能使用化学物质擦洗仪器。要定期检查探针，清理探针上残留的污物。仪器长期不用时，要取出电池。
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光学膜厚仪的应用
光学膜厚仪广泛应用于各种薄膜，并且还有半导体液晶显示器等一系列的材料和产品的测量。一般的产品我们可以拿尺来进行测量，对精度要求也不高。但是对薄膜等产品来说，精度是关系到产品的组装和性能的，所以一定要测量。测量仪功能不能能够准确的进行测量，还能及时的显示出数据。
其次可以计算薄膜厚度，一般采用光干涉法，薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉，干涉的发生与膜厚及折光系数等有关，因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、快速的光学薄膜厚度测量技术，我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。
再次，就是操作方便，效率较高。这种优势对于薄膜测试的时候是非常重要的，毕竟薄膜测试是一种比较枯燥的工作，安阳石英晶体膜厚仪，如果测试又比较繁杂的话，会使人心情焦躁，难免会影响测试时间和测试结果。
而操作方便，容易上手，国产石英晶体膜厚仪，几秒钟内即可完成测量和数据分析，发展潜力巨大。
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涂层膜厚仪校验方法
涂层膜厚仪常用的校验方法就是零点校准以及多点校准。
1.零点校准：就是在该产品的金属底材（无涂层的基体）上进行归零校准。
（1）选定一块调零板，调零板就是无涂层的金属底材。（由于工件表面粗糙度不同，调零后，再测不一定是的零位，这属于正常现象。）
（2）在一起的侧单界面，选择校准，然后零位校准，然后将探头垂直并平稳地紧压在基体上，一起会自动进行零位校准。
（3）重复上述的1、2步骤，就可以可以获得更加的零点，提高测量精度。
2.多点校准：使用标准片来进行校准，这种校准方法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。
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