




CT检测X射线利用率
首先,CT系统的设计是否紧凑是一个至关重要的因素。 这不仅仅影响机型的大小,更重要的是它决定了X射线的利用率。众所周知,工业CT检测方案,X射线(光子)会随着传播距离的增加而衰减,并且基本上遵循衰减与距离的平方成反比的规律,换言之,X射线源与探测器之间的距离越长,X射线的利用率就越低。因此,将CT系统设计得越紧凑越好是首要的原则之一。

CT检测发展
三代CT是单射线源,具有大扇角、宽明束、全包容被检断面的扫描方式。对应宽扇束有几个探测器,工业CT检测价格,保证一次分度取得八个投影计数和1值,被检物仅作M个分度旋转运动。第三代CT运动单一、好控制、,理论上被检物只需旋转一周即可检测一个断面。
四代CT也是一种大扇角全包容、只有旋转运动的扫描方式,由相当多的探测器形成固定圆环,仅由辐射源转动实现扫描。其特点是扫描速度快、成本高,仅在CT上使用,在工业CT中一般不采用。
五代CT是一种多源多探测器,用于实时检测与生产控制系统,其辐射源与探测器按120°分布,工件与辐射源到探测器间不作相对转动,工业CT检测,仅有管子沿轴向的快速分层运动。

CT检测发展
一代CT使用单源(一条射线)单探测器系统,系统相对于被检物作平行步进式移动扫描以获得N个投影值(1值),被检物则按M个分度作旋转运动,被检物仅需转动180%。代CT机结构简单、成本低、图像清晰,但检测效率低,在工业CT中已经很少采用。
二代CT是在第代CT基础上发展起来的。使用单源小角度扇形射线束多探头,射线扇束角小、探测器数目少,因此扇束不能全包容被检断层,其扫描运动除被检物作M几个分度旋转外,射线扇束与探测列架还要一起相对于被检物作平移运动。在至全都覆盖被检物,得到所需的成像数据。

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