蔡司三坐标测量机
触发测头与扫描测头
其实要考察触发测头与扫描测头两者之间的区别，需要从测量任务的特点来着手进行。众所周知，三坐标测量机能够进行从尺寸到形位公差的测量，属于通用型检测设备。但是其中，单一的尺寸测量，如长度、直径、角度等，基本都可以通过简单的量具来测量，三坐标并无不可代替的显著优势;而行为公差的测量则牵涉到诸多方面，如测量基准、拟合方式、测量原则等，必须依靠三坐标测量机作为一个系统性的整体来进行，这也是三坐标测量机具有不能替代性的主要原因。
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接触式测头与光学测头
近年来流行着一些带有误导性的宣传，导致部分用户对光学测头有过高的期待，例如“用光学测头一扫，零件的所有尺寸都出来了”等等，这对光学测头实际上存在很大的误解。从目前的状态来说，接触式与光学测头之间主要是相互补充的关系，而非竞争。三维光学测头有不同的分类，比如点光源、线光源、面光源，不同的测头其应用场合有显著区别。我们将光学测头的应用大致分成两类：表面数字化和三维测量。
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三坐标测头
光学测头虽然有一些接触式测头无法提供的优势，但并无法完全替代接触式测头，三坐标测量机蔡司供应，其原因在于光线的可触及性不如接触式测头。测球的各个部位都可以去接触被测物体来采点，但光的传播是沿直线的，我们无法让光“转弯”，必然有一些特征让光线力所不能及，比如径深比很小的孔、或是需要L型测针的场合，接触式测头比光学测头更方便。
没有好的测头，究竟怎么选择还是取决于测量需求。在繁多的测头种类面前，三坐标测量机蔡司代理商，应该不只是以预算为导向，三坐标测量机蔡司，也不一定要追求型的测头，找到真正合适的产品，才能既快又好地做好质量控制。
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