半导体膜厚测试仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
光学膜厚测量仪
光学膜厚仪是通过测量一定波长内光线垂直入射到样品表面时，薄膜表面的反射光来测量薄膜的厚度、粗糙度及光学常数。由于光学测量膜厚方法准确、无***，且光谱反射法比椭偏仪操作简单、测试速度快，适合测量具有结构的薄膜。
设备性能指标：
1、测量薄膜厚度范围：4nm～30um（使用10x、15x物镜，样品折射率为1.5左右时，4nm～2um（使用40x物镜）；
2、测试面积：光栏尺寸（250um）/物镜倍率；
3、该设备显微镜物镜：5x、10x、15x、40x。其中5x物镜用于寻找测试区域，10x和15x物镜用于测试薄膜厚度；
4、40x物镜用于测试厚度低于2um的薄膜厚度；
5、测试精度：测试膜层总厚度的0.2%或2nm中的较大者；
6、光源：灯、钨灯；
7、测试波长范围：190nm～1100nm；
8、大测试样品尺寸：8寸。
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膜厚仪的种类
随着科技的进步，行业的发展，膜厚仪的适用范围逐渐扩大，同时它的使用需求量也在不断的增长，膜厚仪属于一种薄膜厚度测量仪器，在很多的行业领域都得到了重要的应用，半导体膜厚测试仪哪家好，其实这种仪器有很多种类。今天我们来看看膜厚仪的种类及选择方法：
膜厚仪的种类：
其实在行业的发展当中，这种仪器主要被分成了三大类型，分别是磁感型、电涡流型、荧光X射线型;种类型主要使用了磁石感应的远离，让磁石通过探头经过非铁磁覆盖层，后进入到仪器当中的铁磁机体，来确定可以通过的磁通大小来达到测试的目的，随着行业的发展，这种类型使用过程中的误差范围越来越小，量程也随之增加，所以它通常被运用在油气层的测量方面。
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国产膜厚测试仪的使用方法和注意事项
国产膜厚测试仪，半导体膜厚测试仪批发，分为手持式和台式。台式的荧光X射线国产膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时，产生低能量的光子，俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。接下来详细说说国产膜厚测试仪的使用方法。
许多用户在使用国产膜厚测试仪仪测量油漆厚度时，南京半导体膜厚测试仪，对仪器使用方法不是很了解。下面我们以国产膜厚测试仪的使用方法为例，介绍测量漆膜厚度的方法。
关机状态下，半导体膜厚测试仪厂家，长按电源键进入设置模式，可以设置测量模式，单位以及语言；
测量在时，用手指握住仪器的凹槽部分，将探头紧压在油漆表面，膜厚会立即显示在仪器屏幕上。测量速度超快，0.5S即可出一个数据。
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