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半导体膜厚测量仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

涂层膜厚仪工作原理及校验方法

涂层膜厚仪作为检测涂层厚度的仪器，在管控涂层厚度质量的品质中起着至关重要的作用，大多数的用户对于涂层膜厚仪的工作原理及校验方法还不是很了解。本文为大家介绍了涂层膜厚仪的工作原理及校验方法，感兴趣的用户可以看看。

目前市面上常用的铝基涂层膜厚仪以及铁基涂层膜厚仪主要用于的就是涡流法以及磁性法。

涡流检测方法和用于金属加热、感应淬火的感应加热技术有某些相似指出。例如，都是根据电池感应原理，使放在一个或几个感应线圈里面或附近的零件中感应出涡流来。热由于I*2R产生的，这是零件中涡流所引起的损失。

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涂层膜厚仪工作原理及校验方法

磁感应测厚法是利用交流电磁场，由磁线圈（探针）与铁类物体的接近产生的磁场强度的变化推导出测定结果。随着探针与测定的铁类基体之间的距离的变化，磁力线密度和电流都相应地改变，对之进行监控，以确定厚度。

相对来说，磁感应侧厚度会更受局限，东莞半导体膜厚测量仪，它只限于测定磁性金属底基上的非磁性涂层，这些涂层包括铜、锌、铅、铬、橡胶、锑、塑料、油漆、瓷漆、油墨、纸和铝。相反，诸如钢、铁、镍等材料由于它们的磁性，将会导致错误的测定读数。

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涂层膜厚仪标准片选择与使用

使用可靠的参考标准块校准仪器。测量不确定度直接取决于校准标准块的测量不确定度和测量精度。

参考标准块应具有的已知单位面积质量或厚度的均匀的覆盖层，半导体膜厚测量仪厂家，如果是合金，则应知其组成。参考标准块的有效或限定表面的任何位置的覆盖层不能超过规定值的±5%。

只要用于相同的组成和同样或已知密度的覆盖层，半导体膜厚测量仪价位，规定以厚度为单位（而不是单位面积质量）的标准块，将是可靠的。合金组成的测定，校准标准不需要相同，但应当已知。

金属箔标准片。如果使用金属箔贴在特殊基体表面作标准片，就必须注意确保接触清洁，无皱折纽结。任何密度差异，除非测量允许，否则必须进行补偿后再测。

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