射线检测机构-纳克-射线检测

CT检测原理

工业CT是在射线检测的基础上发展起来的，射线检测，其基本原理是：让一束X射线投射在物体上，通过物体对X射线的吸收（多次投影）便可获得物体内部的物质分布信息。

当强度为I0的一个窄束X射线穿过吸收系数为的物体时，其强度满足指数衰减关系：

式中为X射线所穿过物质层厚度。在实际情况中，所研究的物体往往不是由单一成分组成的，当物体由若干个不同成分组成时，物体内部各处的穿透率也将可能不同。

CT检测样品扫描系统

样品扫描系统形式上像一台没有刀具的数控机床，射线检测方案，从本质上应当说是一个位置数据采集系统，射线检测公司，从重要性来看，射线检测机构，位置数据与射线探测器测得的射线强度数据并无什么不同。仅仅将它看成一个载物台是不够的。设计扫描系统时首先需要考虑的是检测样品的外形尺寸和重量，要有足够的机械强度和驱动力来保证以一定的机械精度和运动速度来完成扫描运动。同时还要考虑，选择适合的扫描方式和几何布置，确定对机械精度的要求，并对各部分的精度要求进行平衡。根据扫描和调试的要求选择合适的传感器以及在计算机软件中对扫描的位置参数作必要的插值或修正等。

CT检测分立探测器

工业CT所用的探测器有两个主要的类型—分立探测器和面探测器。而分立探测器常用的X射线探测器有气体和闪烁两大类。

气体探测器具有天然的准直特性，限制了散射线的影响，几乎没有窜扰，且器件一致性好。缺点是探测效率不易提高，高能应用有一定限制。其次探测单元间隔为数毫米，对于有些应用显得太大。