嘉兴膜厚测厚仪-景颐光电***放心-半导体膜厚测厚仪

膜厚测厚仪—广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

影响涂层测厚仪测量精度的因素：

1、基体金属磁性质?在热处理和冷加工的过程中，部分基体金属磁性性质会发生变化，应当在测试之前使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；也可用待涂覆试件进行校准。

2、基体金属电性质在热处理过程中，不同的基体金属导电性会发生不一样的变化，从而使基体金属电性质产生变化，半导体膜厚测厚仪，应当在测试之前使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

3、基体金属厚度每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

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影响涂层测厚仪测量精度的因素

1、边缘效应响?

针对一些表面并不光滑的基体金属进行测量时，仪器会对金属表面的陡变产生敏感变化因此在对基体金属的转弯处或凹凸面进行测量所得到的数据是不可靠的

2、表面粗糙程度

金属看似光滑，实则上表面粗糙不平。金属表面的粗糙程度越大，会对仪器产生的误差也就越大，为减少误差，可以对同一个位置进行反复测量以减少误差，亦或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

3、附着物质

当测头与基体金属表面的存在妨碍测量的阻碍物质时，会对测量的结果产生较大影响。因此必须去除附着物质。

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选择涂层测厚仪的方法

涂层测厚仪需要根据实际的情况来进行选择

1、根据被测材料大小选择

测量常规平面，嘉兴膜厚测厚仪，凹槽等材料的涂层厚度，可以使用一体式或者分体式涂层测厚仪。被测物如果比较小，如螺丝、螺帽以及异型材料，分光膜厚测厚仪，可以使用探针式的表面涂层测厚仪。为了测量的准确性也可以配合手压测试机架进行测试。

2、根据测量场合选择

被测物表面平整且空间大的话，可以使用主机与测头一体式的涂层测厚仪，如果测量空间比较狭小，可以使用分体式设计的涂层测厚仪。

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