租售是德M8020A比特误码仪

一款基于 14 插槽 AXIe 主机的多通道 比特误码率测试仪解决方案，适用于多路测试。***新比特误码率测试仪使用***新的M8070A 系列软件（3.0版本）。M8000 系列比特误码率测试解决方案提供了对多通道应用更快速的洞察。

  电子设备与系统不断增加的复杂性，更高的数据速率，使这些设备的测试面临更多挑战。当速率较低时，单路测试即可满足要求。但是，如果数据速率较高，工程师可能会遇到更多的串扰问题。因此，针对不同干扰源和干扰信号应用多路测试就变得十分重要。例如 PCIe? 3 具有高达 16 个差分 8 Gb/s 通道，还有10 Gb/s PON、40 GbE 和 100 GbE，要求 4 至 10 个 10 Gb/s 通道。在测试设置中广泛使用射频开关切换会增加信号的额外损耗和反射。工程师现在使用新的 M8030A 多通道 比特误码率测试仪，无需再使用这些射频开关。

主要特性与技术指标
数据速率高达 8.5/16 Gb/s，用于码型发生器和误码检测器。通过 M8062A 32 Gb/s BERT 前端，可扩展至 32 Gb/s

高度整合和校准过的抖动注入：RJ、PJ1、PJ2、SJ、BUJ、正弦干扰（共模和差摸）、***（三角波、任意波形和剩余噪声）

高达 20 dB 的 8 分接去加重（正值和负值）

综合可调的 ISI，可用于损耗仿真

支持 8 GT/s 和 16 GT/s 速率的 SAS-3、USB 3.0/3.1 和 PCI Express 交互式链路训练

IEEE 10GBASE-KR、25GBASE-KR 和 100GBASE-KR4 的交互式 TxEQ 训练

内置时钟数据***和均衡

可以与用于 M8000 BER 系列的 M8070A 软件进行系统集成。与 BERT/示波器和任意波形发生器紧密配合工作