




PECVD真空镀膜MEMS真空镀膜加工平台——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,立足于广东省经济社会发展的实际需要,PECVD真空镀膜服务,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,PECVD真空镀膜平台,以及行业应用技术开发。
在对纯度为99.9%的铜溅射靶材的研究中,发现在制备Cu靶材时不可避免地会引入硫和铅。微量S的加入可以防止热加工时晶粒尺寸变大和微裂纹产生使表面粗糙。但是,当S的含量高于18ppm时,会再次出现微裂纹。随着S和Pb含量的增加,裂纹数量和电弧放电次数增加。因此,应尽量减少靶材中的杂质含量。减少溅射薄膜的污染源,提高薄膜的均匀性。
溅射靶材制备工艺条件的控制
对于热导率较差的靶材,例如***溅射靶材,往往会因为靶材中的杂质而阻碍热传递。生产中使用的冷却水温度与镀膜线实际水温存在差异,导致使用过程中靶材开裂。一般来说,轻微的裂纹不会对镀膜生产产生很大的影响。但当靶材有明显裂纹时,电荷很容易集中在裂纹边缘,导致靶材表面异常放电。放电会导致落渣、成膜异常、产品报废增加。因此,在靶材制备和控制纯度的过程中,还要控制制备工艺条件。
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由工作气压与沉积率的关系表可以看出:在其他参数不变的条件下,随着工气压的增大,沉积速增大后减小。在某一个佳工作气压下,有一个对应的大沉积速率。
3.5.1试验结果分析
气体分子平均自由程与压强有如下关系
其中为气体分子平均自由程,k为玻耳兹曼常数,T为气体温度,d为气体分子直径,p为气体压强。由此可知,在保持气体分子直径和气体温度不变的条件下,如果工作压强增大,则气体分子平均自由程将减小,溅射原子与气体分子相互碰撞次数将增加,二次电子发射将增强。
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溅射靶材均匀性对大面积镀膜的影响
对于合金溅射靶材来说,往往存在材料分布不均的情况。如***靶材中铝团聚,锌铝靶材中铝偏析(铝的原子质量比锌的原子质量65少27。铝在浇注后冷却过程中会上浮,导致铝含量一侧高另一侧低)。由于熔点低,***靶中的团聚铝在溅射成膜时很容易掉渣,而在喷涂过程中加入的铝量是一定的。一部分铝团聚表明其他位置的铝含量较少,影响了硅靶的热导率和电导率。所以溅射速率不一致,江苏PECVD真空镀膜,成膜均匀性差,靶材,靶材放电加剧。它还降低了成膜质量。靶材成分的偏析会影响溅射速率(薄膜均匀性)和薄膜成分。因此,除了控制靶材的纯度外,合金靶材的分布也很关键。
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