





在无损检测的基础理论研究和仪器设备开发方面,电子元器件失效分析,中国与世界******之间仍有较大的差距,特别是在红外、声发射等高新技术检测设备方面更是如此。常用的无损检测方法:涡流检测(ECT)、射线照相检验(RT)、超声检测(UT)、磁粉检测(MT)和液体渗透检测(PT)五种。其他无损检测方法:声发射检测(AE)、热像/红外(TIR)、泄漏试验(LT)、交流场测量技术(ACFMT)、漏磁检验(MFL)、远场测试检测方法(RFT)、超声波衍射时差法(TOFD)等。

Phase 热阻测试仪主要特点
1.提供符合MIL&JEDEC的标准测试环境
2.提供Rja、Rjb、Rjc、热阻参数
3.高可提供200A,4000W电源系统
4.可测试各种封装类型的热阻
5.可测试元器件的稳态及瞬态热阻
6.可对芯片焊接进行筛选评估
三、优点
1.增强瞬态测试能力
2.较高的数据和处理速度
3.单独为改善无障碍改造或修理
4.兼容所有现有的分析技术的夹具
5.紧凑的设计
元器件失效分析公司-元器件失效分析-苏州特斯特电子由苏州特斯特电子科技有限公司提供。苏州特斯特电子科技有限公司是江苏 苏州 ,分析仪器的见证者,多年来,公司贯彻执行科学管理、创新发展、诚实守信的方针,满足客户需求。在苏州特斯特***携全体员工热情欢迎各界人士垂询洽谈,共创苏州特斯特更加美好的未来。