




6. X射线成像技术在BGA焊接质量检测中的应用
BGA(球栅阵列封装)是一种典型的高密度封装技术,其特点是芯片引脚以球形焊点按阵列形式分布在封装下面,可使器件更小、引脚数更多、引脚间距更大、成品组装率更高和电性能更优良。
目前BGA焊接质量检测手段非常局限,常用的检测手段包括:目检、飞针电子测试、X射线检测、染色检测和切片检测。其中染色和切片检测为***性检测,可作为失效分析手段,不适于焊接质量检测。无损检测中目检仅能检测器件边缘的焊球,不能检测焊球内部缺陷;飞针电子测试误判率太高;而X射线检测利用X射线透射特性,可以很好地检测隐藏在器件下方的焊球焊接情况,是目前很有效的BGA焊接质量检测方法。
AOI 检测设备市场在国内处于刚起步阶段,目前市场上只有20%-30%的***T 生产线装配了AOI 检测设备,而国际领i先电子制造企业的***T 生产线基本都配置了AOI 检测设备。即便目前配备了AOI 检测设备的电子制造企业绝大多数也只在炉后配备一台进行全检,而按照国际经验,每条生产线至少要配置三台AOI 检测设备放置在生产线不同测试工位。因此随着行业的发展及AOI 检测设备自身具备的优势,未来AOI 检测设备的装备率会越来越高。
汽车是我们现代生活中常接触到的出行工具,滨松平板探测器,而对于汽车质量的把控是至关重要的。一辆合格的汽车,在出厂前,无论车体还是零部件,都应该接受严格的测试和检验,才能投入市场。其中,检测汽车零部件的工艺过程就是一项重要工序,汽车零部件的好坏将直接影响到汽车的维修质量成本甚至乘坐人的生命安全。在汽车零部件的检验过程中,对于重要零部件需要检测零部件本身是否出现裂纹和裂痕情况,若无损探伤检测人员无法及时发现,那造成的后果将相当严重。
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