光伏组件老化箱又称湿冻试验箱、光伏湿冻试验箱等，该设备适用于光伏组件（太阳能电池板）、光伏玻璃、薄膜组件、太阳能电池等做热循环、湿冻循环、高温高湿双85试验，以确认组件能否承受高温高湿之后随之的负温度影响，以及对于温度重复变化时引起的疲劳和热失效，另外确定光伏组件曝露在高湿度下而产生的热应力及能够抵抗湿气长期渗透的能力.是光伏组件行业必不可少的测试设备。
YASELINE光伏组件老化箱技术指标：
温度范围：-60℃～+100℃
温度波动度：±0.5℃
温度偏差：±2℃
升、降温速率：按照IEC 61646试验标准(见0条)
湿度试验：85℃，85% R.H
湿度范围：20%～95% R.H
样品承重：太阳能薄膜组件： 6片 180kg、铝合金型材置物架：280kg
试验方法：a.热循环试验 b.湿-冻试验 c.湿-热试验
定时功能：0.1～999.9（H、M、S）可调
3.2 恒压工作模式及模式切换
对于恒压工作模式电路，其控制原理与恒流工作模式相同。将负载电压差分处理后，与DAC模块的控制信号做比较运算，运放输出端接入各个MOSFET的控制电路，回收滴胶板组件，使其等效阻抗受控于DAC给定的电压信号。
所提出的可自动切换工作模式的可编程电子负载，在扫描光伏组件的IV特性曲线时，需对光伏组件输出的恒流段和恒压段分别采用恒压和恒流工作模式扫描曲线。因此选用了模拟电子开关对上述控制信号进行切换。该模拟电子开关直接由主控制器DSP控制，实现测量过程中工作模式自动切换。
按硅片直径划分：
硅片直径主要有3英寸、4英寸、6英寸、8英寸、12英寸（300mm），目前已发展到18英寸（450mm）等规格。直径越大，在一个硅片上经一次工艺循环可制作的集成电路芯片数就越多，每个芯片的成本也就越低。因此，更大直径硅片是硅片制各技术的发展方向。但硅片尺寸越大，对微电子工艺设各、材料和技术的要求也就越高。
按单晶生长方法划分：
直拉法制各的单晶硅，称为CZ硅（片）;磁控直拉法制各的单晶硅，称为MCZ硅（片）;悬浮区熔法制各的单晶硅，称为FZ硅（片）;用外延法在单晶硅或其他单晶衬底上生长硅外延层，称为外延（硅片）。
