直读光谱仪器的误差来源有哪些？
1)系统误差也叫可测误差，一般包括仪器的本身波动；样品的给定值和实际值存在一定的偏差（标准样品的元素定值方法可能和实际检测方法不一致，这样检测结果会有方法上的差异；同一种方法的检测结果也存在一定的波动）；待测样品和系列标样之间存在成分的差异，可能导致在蒸发、解离过程中的误差，如背景强度的差别和基体蒸发的差异等。
2)偶然误差是一种无规律性的误差，如试样不均匀；检测时周围的温湿度、电源电压等的变化；样品本身的成分差异等。
3)过失误差是指分析人员工作中的操作失误所得到的结果，可以避免。如制样不准确，样品前处理不符合要求，控样和待测试样存在制样偏差，选择了错误的分析程序等。
光电光谱分析选用的分析线，必需符合下列要求
直读光谱分析时，一般都采用内标法。因内标法进行分析时常采用多条分析线和一条内标线组成，常用试料中的基体元素为内标元素。组成的线对要求均称，就是当激发光源有波动时，两条线对的谱线强度虽有变化，但强度比或相对强度能保持不变。
如R表示强度比即
R=I1/I0
I1为分析线的强度，光谱检测仪厂家，Io为内标线强度，表明I1和Io同时变，而R则不受影响。R与含量C之间有线性关系。
在光电直读光谱分析时，有很多分析通道，贵州光谱检测仪，要安装许多内标通道有困难，光谱检测仪公司，因此采用一个内标线。但有人认为再要提高光电光谱分析的准确度还得采用不同的内标线，这还有待于光电转换元件的小型化来解决。
光电法时，有时还用内标线来控制***量，称为自动***，也就是样品在***时，分析线和内标分别向各自积分电容充电，当内标线的积分电容器充电达到某一预定的电压时，自动截止***。此时分析线的积分电容器充电达到的电压即代表分析线的强度I，并且亦即代表分析线的强度比R(因为R=I1/Io，而此时Io保持常数)这个强度I或强度比R就由测光读数所表示。
现在一般采用计时***法较为普遍。
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陈吉文说到，“市场规模扩大不容易，但是在有限的市场中，为了扩大我们公司的市场份额我们想了很多办法，如，开发有针对性的系列产品满足用户的需求。过去我们在黑色金属材料领域非常优势，但是直读光谱不但可以应用在黑色金属还可以用于有色金属如铜铝铅镁的检测，如，我们今年推出的CCD6000新产品在有色行业有很好的反响。”
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