离子迁移HSAT老化试验 高低温试验箱 pct试验箱制造商
PCB为确保其长时间使用质量与可靠度，需进行SIR表面绝缘电阻高压加速老化试验，透过其试验方式找出PCB是否会发生离子迁移与玻纤纱阳极性漏电现象，离子迁移与是在加湿状态下，施加恒定偏压，离子化金属向相反电极间移动（阴极向阳极生长），相对电极还原成原来的金属并析出树枝状金属的现象，常造成短路，离子迁移非常脆弱，在通电瞬间产生的电流会使离子迁移本身溶断消失。
HSAT高压加速老化试验箱是一种试验手法也是设备名称，HSAT高压加速老化试验箱是提高环境应力（温度&湿度&压力），在不饱和湿度环境下（湿度：85%RH）加快试验过程缩短试验时间，用来评定PCB压合&绝缘电阻，与相关材料的吸湿效果状况，缩短高温高湿的试验时间（85C85%RH/1000h→110C85%RH/264h），PCB的HAST试验主要参考规范为：JESD22-A110B、JPCA-ET-01、JPCAET-08。
HAST加速寿命模式：
提高温度（110℃、120℃、130℃）
维持高湿（85%RH）
施加压力（110℃85%/0.12MPa、120℃85%/0.17MPa、130℃85%/0.23MPa）
外加偏压（DC直流电）
PCB的HAST测试条件：
1.JPCA-ET-08：110、120、130℃85%RH/5~100V
2.高TG环氧多层板：120℃85%RH/100V，800小时
3.低诱电率多层板：110℃85%RH/50V/300h
4.多层PCB配线材料：120℃85%RH/100V/800h
5.低膨胀系数&低表面粗糙度无卤素绝缘材料：130℃85%RH/12V/240h
6.感旋光性覆盖膜：130℃85%RH/6V/100h
7.COF膜用热硬化型板：120℃85%RH/100V/100h
东莞瑞凯成立于1997年， 是一家主要制造模拟环境可靠性试验仪器、汽车整车与零部件可靠性试验设备的大型企业。