光谱分析的过程
1．把试样在能量的作用下蒸发、原子化(转变成气态原子)，并使气态原子的外层电子激发至高能态。当从较高的能级跃迁到较低的能级时，原子将释放出多余的能量而发射出特征谱线。这一过程称为蒸发、原子化和激发，需借助于激发光源来实现。
2．把原子所产生的辐射进行色散分光，按波长顺序记录在感光板上，就可呈现出有规则的光谱线条，即光谱图。系借助于摄谱仪器的分光和检测装置来实现。
3．根据所得光谱图进行定性鉴定或定量分析。由于不同元素的原子结构不同，光谱分析仪原理，当被激发后发射光谱线的波长不尽相同，即每种元素都有其特征的波长，故根据这些元素的特征光谱就可以准确无误的鉴别元素的存在(定性分析)，而这些光谱线的强度与试样中该元素的含量有关，光谱分析仪作用，因此还可利用这些谱线的强度来测定元素的含量(定量分析)。
如何让功率分析仪测试变得更具有抗干扰性？
在当今日益复杂的测试环境中，许多因素对测量结果的影响会相对较大。如何化测试中的干扰也是所有测试工程师的问题。本文将简要介绍测试功率分析仪时常见的干扰现象和处理方法。
对于当前的测试系统，除了要测试的信号之外，理论上在测试系统中出现许多信号。这些信号都会对测量结果产生影响。这些信号通常是外部干扰，例如机械干扰信号，热干扰信号，光干涉信号，化学干扰信号，电磁干扰信号等。
在实验室测试中，测试环境***，机械干扰，热干扰和光干扰会相对较小，但鉴于实验室设备，电场和电磁将会更多，电磁干扰仍然很可能发生。电磁干扰也是检测系统中***常见，***有影响的干扰。因此，电磁干扰也是我们测试时的关注点。
经常发现的干扰就包括：静电耦合形成干扰、电磁耦合形成干扰、辐射电磁场耦合形成干扰等等。我们一般解决干扰会从三个方向着手:
解决干扰源
例如，在功率测试中，我们会发现被测系统中有许多继电器，接触器和断路器的电触点。上电和下电时这些电触点的火花是强干扰源。如果我们此时正在测试电触点附近的电路，很容易发现测试值有些波动。此时，我们将选择检查电气触点，添加电容器或更换部件以解决此干扰。
隔绝干扰途径
随着新能源汽车的发展，东莞光谱分析仪，新能源汽车的测试已成为一个不可忽视的项目。在测试电机时，我们还会发现通常会有一些脉冲信号的测试波形非常差。原因是脉冲信号线太多。接近高电流线，进而产生干扰。此时，测试将采用移动两个信号的方法，或在当前线路上添加一些磁环配件以消除一些干扰。
优化干扰
接收信号的设备的“电阻”也决定了干扰的***终影响。例如，高输入阻抗比低输入阻抗更容易受到干扰，模拟电路比数字电路更容易受到干扰，没有隔离设计的设备比具有隔离设计的设备更容易受到干扰。
光谱分析仪的基本介绍
根据现代光谱仪器的工作原理，光谱仪可以分为两大类：经典光谱仪和新型光谱仪。经典光谱仪器是建立在空间色散原理上的仪器：新型光谱仪器是建立在调制原理上的仪器。经典光谱仪器都是狭缝光谱仪器。调制光谱仪是非空间分光的，它采用圆孔进光根据色散组件的分光原理，光谱仪器可分为:棱镜光谱仪，衍射光栅光谱仪和干涉光谱仪.光学多道OMA(Optical Multi-channel Analyzer)是近十几年出现的采用光子探测器(CCD)和计算机控制的新型光谱分析仪器，它集信息采集，处理，存储诸功能于一体。由于OMA不再使用感光乳胶，避免和省去了暗室处理以及之后的一系列繁琐处理，测量工作，使传统的光谱技术发生了根本的改变，大大改善了工作条件，提高了工作效率：使用OMA分析光谱，测盆准确迅速，方便，且灵敏度高，响应时间快，光谱分辨率高，光谱分析仪功能，测量结果可立即从显示屏上读出或由打印机，绘图仪输出。它己被广泛使用于几乎所有的光谱测量，分析及研究工作中，特别适应于对微弱信号，瞬变信号的检测。
