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差示扫描量热仪介绍

什么是氧化诱导期？

氧化诱导期（OIT）是测定试样在高温（200摄氏度）氧气条件下开始发生自动催化氧化反应的时间，是评价材料在成型加工、储存、焊接和使用中耐热降解能力的指标。氧化诱导期（简称OIT）方法是一种采用差热分析法（DTA）以塑料分子链断裂时的放热反应为依据，扫描量热仪，测试塑料在高温氧气中加速老化程度的方法。其原理是：将塑料试样与惰性参比物（如氧化铝）置于差热分析仪中，使其在一定温度下用氧气迅速置换试样室内的惰性气体（如氮气）。测试由于试样氧化而引起的DTA曲线（差热谱）的变化，并获得氧化诱导期（时间）OIT（min)，以评定塑料的防热老化性能。

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差示扫描量热仪的工作原理

将样品置于特定的气氛下，改变其温度或者维持在固定一个温度环境中去观察样品的相变化形态及能量变化状况。当样品发生物理变化现象如熔融、蒸发、结晶、相转变等；或化学变化时即由灵敏感测器记录样品的吸热…

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差示扫描量热仪检测中的相变

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安全筛选lt;/stronggt;数码相机提出了合理的初步安全检查的工具。在此模式的示例将被安置在一个非反应坩埚（通常黄金，或镀金钢），这将能够顶住压力（通常可达100巴）。在场的一放热事件可以用来评估稳定的物质加热。然而，由于多种敏***相对较差，速度慢于正常的扫描率（通常为2-3°/分钟-由于更重坩埚）和未知的活化能，有必要扣除约75-100摄氏度，从起初开始观察放热建议的高温度的物质。更为准确的数据集可以从一个绝热量热计，但是这种测试可能需要2-3天从周围的速度在3°C增量每半小时。