PeakView是Lorentz公司开发的一款专业的射频IC电磁场验证平台，内建丰富的无源器件模型库，可以进行任意物理结构的器件综合与优化，全自动的高频寄生电感提取流程，进行电磁场设计与分析。而且与PDK结合非常方便，用户可以自己一键转换工艺文件。
PeakView是Lorentz公司开发的一款专业的射频IC电磁场验证平台，内建丰富的无源器件模型库，可以进行任意物理结构的器件综合与优化，全自动的高频寄生电感提取流程，进行电磁场设计与分析。而且与PDK结合非常方便，用户可以自己一键转换工艺文件。
PeakView是Lorentz公司开发的一款专业的射频IC电磁场验证平台，内建丰富的无源器件模型库，可以进行任意物理结构的器件综合与优化，全自动的高频寄生电感提取流程，进行电磁场设计与分析。而且与PDK结合非常方便，用户可以自己一键转换工艺文件。
工艺日益先进，foundry制成加工中LDE效应会导致设计阶段EM sim结果和流片后实测结果偏差越来越大；传统的HFSS、ADS等EM工具没有考虑LDE效应，存在上述偏差风险；peakview软件考虑LDE效应对设计精准度的影响，在配置文件中添加LDE信息，保证sim结果更接近于实测值。
工艺日益先进，foundry制成加工中LDE效应会导致设计阶段EM sim结果和流片后实测结果偏差越来越大；传统的HFSS、ADS等EM工具没有考虑LDE效应，存在上述偏差风险；peakview软件考虑LDE效应对设计精准度的影响，在配置文件中添加LDE信息，保证sim结果更接近于实测值。
体电阻率和方块电阻是一个意思，终都会折算到金属电导率，其差异变化会影响金属层电导率波动。电导率波动会直接影响EM结果，例如器件损耗等；线宽波动也会直接对EM结果带来差异影响，例如L、Q等。
下面截图是PDK中LDE信息：
Peakview软件的配置文件中考虑了LDE，保证精度更接近实测结果。在当前先进的工艺中，更能提升流片成功率。在一些7nm等先进工艺中，PDK信息是加密的，这种LDE信息已不能靠人工处理，peakview可以通过软件自动解析进行加载，为工作带来精度保证和便利。
Peakview会识别PDK中的LDE信息，转换配置文件时以方块电阻变化表、线宽变化表映射LDE信息。时peakview根据不同的设计尺寸来查表，调用实际的方块电阻和线宽值，确保结果更接近实测值。
