钢研纳克仪器(图)-国产ICP光谱仪原理-ICP光谱仪原理

ICP光谱仪的主要作用

ICP光谱仪其主体是一个由三层石英套管组成的炬管，炬管上端绕有负载线圈，三层管从里到外分别通载气，国产ICP光谱仪原理，辅助气和冷却气，负载线圈由高频电源耦合供电，产生垂直于线圈平面的磁场。如果ICP光谱仪通过高频装置使ya气电离，则ya离子和电子在电磁场作用下又会与其它ya原子碰撞产生更多的离子和电子，形成涡流。强大的电流的产生高温，瞬间使ya气形成温度可达10000k的等离子焰炬。ICP光谱仪的样品由载气带入等离子体焰炬会发生蒸发、分解、激发和电离，辅助气用来维持等离子体，需要量大约为1L/min。冷却气以切线方向引入外管，产生螺旋形气流，国产ICP光谱仪原理，使负载线圈处外管的内壁得到冷却，冷却气流量为10-15L/min。ICP光谱仪常用的进样方式是利用同心型或直角型气动雾1化器产生气溶胶，在载气载带下喷入焰炬，样品进样量大约为1ml/min，是靠蠕动泵送入雾化1器的。在ICP光谱仪负载线圈上面约10mm处，焰炬温度大约为8000K，在这么高的温度下，电离能低于7eV的元素完全电离，电离能低于10.5ev的元素电离度大于20%。由于大部分重要的元素电离能都低于10.5eV，因此都有很高的灵敏度，少数电离能较高的元素，如C，O，Cl，Br等也能检测，只是灵敏度较低。ICP光谱仪自动化程度高、操作简便、稳定可靠，使结果准确度更高，人性化设计的仪器操作界面。

ICP光谱仪的校正

一、 光学系统校正

在PROFILE仪器中，操作软件自动控制仪器每30分钟快速校正、每2小时完全校正光学系统。如果实验室环境温度变化较大，不能保证工作条件，可能造成测量结果数据漂移。

光学系统校正使用共灯，选择Hg8线（波长253.652nm），仪器内部装有gong灯，只要按照操作规程操作即可。

二、 等离子体位置校正

等离子体位置校正的目的是将光源对准光学系统。通常在重新装配进样系统后，点燃等离子体，用Mn溶液（10ug/mL）校正。

在等离子体位置校正过程中，值得注意的是：确保选中Mn 257.610波长、Mn溶液能够正常进入雾1化器并形成气溶胶进入等离子体。如果上述条件没有满足，可能造成校正失败。

三、 波长校正

在使用任何一个元素、任何一个波长进行分析测量之前，都要做波长校正。波长校正的目的是：对事先存储在谱线库中的理论波长坐标位置进行修正、保证实际使用的波长坐标位置准确。

ICP光谱仪光学系统的知识

1.单色仪

ARCOS采用焦矩为1米的Czerny Turner单色仪，光栅为高光强、高分辩率、杂散光极低的全息光栅，单色仪的设计使其对温度和压力的变化都具有极1好的稳定性，ICP光谱仪原理，因此这种光学系统具有优异的分析性能。

2.光栅

使用110mmX80mm大面积的3600刻线/mm的全息光栅，使单色仪的入射光为可利用的较大视角的平行光，提高了光通量，因此提高了稳定性和信号强度。光栅在高分辩率的条件下也可采集到足够的光，短的测量时间即可满足需要，从而减少了所需测量的样品量。由于杂散光极低，显著提高了S/B，改善了检出限。

3.分辩率

光谱仪的分辩率决定了仪器分辩复杂谱线的能力。高分辨率减少了建立分析方法所需的时间，有较好的检出限和较高的准确度。ARCOS 的实际分辩率为：Fe(310.030)lt;0.007nm。采用3600刻线/mm光栅的光谱范围为190nm—520nm，可以适用于大部分的光谱分析元素。

4.光栅直接驱动

ARCOS型光谱仪采用直接驱动光栅的机械传动方式，计算机控制下的自动波长参比保证波长的机械准确度总是优于0.003nm。由于极1好的重现性，扫描速度很快，全谱范围扫描小于8秒.光栅转动的高速度使得仪器在1分钟内可以分析15个元素，这意味着节省ya气和样品，分析速度快， 稳定性较高。