




光谱仪的误差来源与避免(二)
偶然误差的来源
与样品成分不均匀有关的误差。因为光电光谱分析所消耗的样品很少,样品中元素分布的不均匀性、***结构的不均匀性,导致不同部位的分析结果不同而产生偶然误差。主要原因如下:
(1)熔炼过程中带入夹杂物,产生的偏析等造成样品元素分布不均。
(2)试样的缺陷、气孔、裂纹、砂眼等。
(3)磨样纹路交叉、试样研磨过热、试样磨面放置时间太长和压上***等因素。
(4)要减少偶然误差,就要精心取样,消除试样的不均匀性及试样的铸造缺陷,也可以重复多次分析来降低分析误差。
便携式火花直读光谱仪
为使光谱仪能够提高测量精度,设计了新型的 "双光谱分析",它采用理想的光谱线进行分析。这台光谱仪可使用36个元素测量信道,可分析出多种基本元素(例如:C、Si、Mn、P、S、Cr、Ni、Fe、Cu、Co、Ti…)。本光谱仪装有高性能的光电倍增管,由于光谱仪的动态范围较大,可以在较大的测量范围内测出某些元素含量的微小不同。9.化学化工产品的分析:包括化学***化工产品无机材料化妆品油类等。
新型的Belec Compact Port光谱仪有多种不同实际用处﹕
本仪器可用于生产领域、管道的现场安装施工和废品清理现场;也可以由一个环境快速地转换成另一个环境,该仪器都是没有问题的,因为光谱室被密封在一个恒温的机壳里,仅需一个人已足以对设备进行搬运和设备的操作。
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火花直读光谱仪
快速分析:标准检测时间少于18秒
准确的分析结果:***的光源技术,改进了检出限和分析精度
降低操作成本:样品激发过程中能有效减少50%的ya气耗量
减少了维护工作量:自动清洗系统可消除样品激发残留粉尘,火花台5000次激发免清理
操作简便:SPECTRO Spark AnalyzerVision?软件便于分析操作,而且每一步操作都简单直观
更实用的设计:设计时充分考虑了生产现场环境的工作空间,仪器占地面积小,使用和更换部件非常方便。
