光电探测器的几种类型
1、光发射－Schottky势垒探测器：
金属和半导体接触，典型的有PtSi/Si结构，形成Schottky势垒，红外光子透过Si层为PtSi吸收，电子获得能量跃上Fermi能级，留下空穴越过势垒进入Si衬底，PtSi层的电子被收集，完成红外探测。充分利用Si集成技术，便于制作，具有成本低、均匀性好等优势，可做成大规模1024×1024甚至更大、焦平面阵列来弥补量子效率低的缺陷。有严格的低温要求。用这类探测器，国内外已生产出具有像质良好的热像仪。PtSi/Si结构FPA是较早制成的IRFPA。
2、量子阱探测器QWIP：
将两种半导体材料A和B用人工方法薄层交替生长形成超晶格，在其界面，能带有突变。电子和空穴被限制在低势能阱A层内，能量量子化，称为量子阱。利用量子阱中能级电子跃迁原理可以做红外探测器。90年代以来发展很快，已有512×512、640×480规模的QWIPGaAs/AlGaAs焦平面制成相应的热像仪诞生。因为入射辐射中只有垂直于超晶格生长面的电极化矢量起作用，光子利用率低；量子阱中基态电子浓度受掺杂限制，量子效率不高；响应光谱区窄；低温要求苛刻。人们正深入研究努力加以改进，可望与碲镉探测器一争高低。
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按用途来划分：
输送式金属探测器：主要用于检测体积比较小的产品，以及小型袋装，箱装工业产品，可以连接生产线，并实现联动。是目前国内应用多的一类产品。
管道式金属探测器：主要用于检测糊状，密封管道的流水线上。方便检测剔除管道中的金属杂质，主要用于如药片、颗粒状（塑料粒子等）、粉末状物品的检测。
真空输送式金属探测器：生产要求比较高的真空生产线上。这类产品对使用环境要求比较高。主要用于化工行业。
光电探测器噪声分类
光电探测器噪声包括:热噪声、产生-复合噪声、1/f噪声和温度噪声等。
1、产生-复合噪声：半导体中载流子产生与复合的随机性而引起的载流子浓度的起伏。都是由于载流子随机起伏所致，所以有时将该噪声归并为散单噪声。不是白噪声，低频限噪声。是光电探测器的主要噪声源。
3、倍增噪声：光电倍增管
4、雪崩噪声：雪崩光电二极管
5、温度噪声：热探测器本身吸收和传导等热交换引起的温度起伏。
