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近表面缺陷的检测在无损检测中是一个传统而典型的研究课题。

近表面缺陷的检测方法很多，比如，脉冲超声波反射法、磁粉探伤法、涡流检测方法、磁记忆检测法、漏磁检测法、磁悬液检测法、爬波检测法、表面波检测法及热像图法等。这些方法一般都有各自的测试对象及测试环境要求，没有一种可用于任何测试场合的通用方法。这也是多种方法并存的原因。在脉冲超声反射检测法中，靠近介质界面的缺陷被淹没在回波信号中，很难有效分离，导致测量盲区的存在。从信号时域的角度考虑，就是信号在时域的到达时刻比较接近，大型管道检测多少钱，一个信号还没有结束，而另一个信号已经到达。在缺陷的超声检测中，出现这种现象主要有以下两种情况。种情况是，传感器发射的脉冲超声波耦合到接收电路产生的信号还没有结束，近表面缺陷的超声回波就已到达。这时，放大电路尚未正常工作，使缺陷回波信号变小，且两信号混叠在一起，大型管道检测检验中心，导致近表面缺陷无法检出。

超声波衍射时差法，是一种依靠从待检试件内部结构(主要是指缺陷)的“端角”和“端点”处得到的衍射能量来检测缺陷的方法，用于缺陷的检测、定量和***。

TOFD技术与传统脉冲回波技术的的两个区别在于:

A) 更加的尺寸测量精度(一般为±1mm，大型管道检测，当监测状态为±0.3mm)，且检测时与缺陷的角度几乎无关。尺寸测量是基于衍射信号的传播时间而不依赖于波幅。

B) TOFD技术不使用简单的波幅阈值作为报告缺陷与否的标准。由于衍射信号的波幅并不依赖于缺陷尺寸，在任何缺陷可能被判不合格之前所有数据必须经过分析，因此培训和经验对于TOFD技术的应用是极为基本的要求。

TOFD技术的物理原理

衍射现象是TOFD技术采用的基本物理原理。

衍射现象的解释:波遇到障碍物或小孔后通过散射继续传播的现象，根据惠更斯原理，媒质上波阵面上的各点，大型管道检测方法，都可以看成是发射子波的波源，其后任意时刻这些子波的包迹，就是该时刻新的波阵面。

TOFD工作原理

TOFD技术采用一发一收两个宽带窄脉冲探头进行检测，探头相对于焊缝中心线对称布置。发射探头产生非聚焦纵波波束以一定角度入射到被检工件中，其中部分波束沿近表面传播被接收探头接收，部分波束经底面反射后被探头接收。接收探头通过接收缺陷的衍射信号及其时差来确定缺陷的位置和自身高度。

像质计（像质指示器，透度计）是测定射线照片的射线照相灵敏度的器件，根据在底片上显示的像质计的影像，可以判断底片影像的质量，并可评定透照技术、胶片暗室处理情况、缺陷检验能力等。

广泛使用的像质计主要是三种：丝型像质计、阶梯孔型像质计、平板孔型像质计，此外还有槽型像质计和双丝像质计等。像质计应用与被检验工件相同或对射线吸收性能相似的材料制做。各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式，规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法。