红外测厚仪：
泛用于检测无机涂层、超薄涂层和复合薄膜的仪器，***膜厚仪，主要用于钢板上氧化表膜的厚度检测如SiO2、磷化物；薄膜上聚硅酮涂层厚度检测及复合薄膜的各层厚度检测等。
代表机型 : DJH系列 RX-210，RX-400
红外测厚仪特点
1、与X射线比较设备价格低；
2、测量厚度范围广， 0~40mm左右，但只能测试单层膜厚。3、测量误差大，多层测厚仪，5%左右，分辨率0.1um以上。
4、测头的面积偏大，对需测的样品要求高：须有较大的平面用来测试（20mmψ左右），但可配备购买多种测头，面对不同的形状和材质需进行校正
影响膜厚仪测量的的客观因素
应力的影响。在役设备、管道大部分有应力存在，固体材料的应力状况对声速有一定的影响，当应力方向与传播方向一致时，若应力为压应力，则应力作用使工件弹性增加，声速加快；反之，若应力为拉应力，则声速减慢。当应力与波的传播方向不一至时，膜厚仪波动过程中质点振动轨迹受应力干扰，波的传播方向产生偏离。根据资料表明，一般应力增加，声速缓慢增加。
膜厚仪采用了磁性测厚法：
是一种超小型量测仪，它能快速，无损伤，精准地进行铁磁性金属基体上的喷涂.电镀层厚度的量测.可广泛用于制造业，金属加工业，膜厚仪，化工业，荧光光谱测厚仪，商检等检测领域.特别适用于工程现场量测。膜厚仪采用了磁性测厚法：是一种超小型量测仪，它能快速，无损伤，精准地进行铁磁性金属基体上的喷涂.电镀层厚度的量测.可广泛用于制造业，金属加工业，化工业，商检等检测领域.特别适用于工程现场量测。
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