一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集,***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
测试面积是测厚仪器的一项很重要的参数，主要由准直器控制组成，但也受其它条件限制：
1、受高压、光管限制，因为需要这两装置提供足够荧光强度和聚焦。
2、受仪器结构限制，相同的准直器因安装的位置及与探测器的角度都影响测量面积，同样是直径0.2mm准直器Thick800A测量面积达到直径0.4mm，EDX1800B测量面积达到直径0.5mm，CMI900测量面积达到0.3mm,而XTU-A面积可以达到0.218.
江苏一六仪器有限公司 ***镀层测厚检测 欢迎来电详询！
X射线荧光光谱分析可以非***性同时完成组分和厚度测试，厚度的测量范围视材料和元素而定，通常在1nm-50um之间。X射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较，被测元素的特征X射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关，而且与厚度直接相关。能量色散X射线荧光光谱分析相对其他分析方法，具有无需对样品进行特别的化学处理、快速，方便，测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。因此，往往在测试对象几何结构基本上没有变化的情况下使用比较快捷。是目前应用为广泛，具有速度快、无损化以及可实现多镀层同时分析等特点。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
X荧光光谱仪原理及应用领域
一、简单原理
每个元素受高能辐射激发，即发射出具有一定特征的X射线谱线。通过软件测试分析得出该谱线波长，即可知道是那种元素（定性）；通过分析测试其强度，得出该元素含量（定量）。X荧光光谱分析是一种非常常见的分析技术，
二、应用领域
X荧光光谱仪作为一种常见的分析技术手段，在现实生活中有着非常广泛的应用，主要可以分为以下四大类：
1.镀层行业
电镀行业尤其以工业电镀为主，在工业生产中，通常我们为了产品尤其是金属类能达到一定的性能会在其表面镀上另一种金属，这种金属电镀的膜厚往往是受管控，而X荧光光谱仪就是其best的管控者。
2.***检测
我们的衣服帽子、喝水的杯子、小孩的玩具等等这些都跟我们有着紧密的关联，但这其中也许就含有对我们***是***的***，如Cr、Br、Cl、Pb、Hg、Cd、As等长期接触会导致***的病变甚至，为了使用安全，工业生产时需对产品***检测管控（RoHS检测），而X荧光仪器就能对其进行监测。44M软驱，40G硬盘，CD-ROM，鼠标，键盘，17寸彩显，56K调制解调器。
3.元素成分分析
元素成分分析应用也是更加广泛，如岩石矿产的开发开采，钢铁、铜合金、铝合金等可能因某一种元素的含量不同就会大大改变其物理性质，为达到这种物理性质就需要控制相关元素的含量，通过X荧光仪器的检测就可以很好的生产出我们所需的物品，另外还可以利用成分分析原理对珠宝首饰进行真假鉴定。磁性原理测厚仪可应用来测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。
4.古董的检测
X荧光仪器在古董的检测鉴定上也起着重要的作用，通过仪器检测对产品进行定性分析可得其元素成分，从而对产品的年限进行一个判断，得出结论。
江苏一六仪器 ***涂镀层研发、生产、销售高新技术企业。其中稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。
单镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
双镀层：Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
三镀层：Au/Ni/Cu/ABS，Au/Ag/Ni/Cu, Au/Ni/Cu/Fe,等等
一、功能
1. 采用 X 射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足
GB/T 16921-2005 标准（等同 ISO3497：2000、 ASTM B568 和 DIN50987）。
2. 镀层层数：多至 5 层。
3. 测量点尺寸：圆形测量点，直径约 0.2—0.8毫米。
4. 测量时间：通常 30 秒。
5. 测量误差：通常小于 5%，视样品具体情况而定。
6. 可测厚度范围：通常 0.01 微米到 30 微米，视样品组成和镀层结构而定。
