X荧光测厚仪相关注意事项：
仪器供电电压必须与仪器品牌上的电压一致.仪器三线插头必须连接到已接地的插座上。
本仪器为精密仪器，射线测厚仪，配备高精度的稳压电源.计算机应配备不间断电源(UPS)。
仪器应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。
为避免短路，严禁仪器与液体直接接触，如果液体进入仪器，请立即关闭仪器。
本仪器不能用于酸性环境和***场合。
不要弄脏和刮擦调校标准片，否则会造成读数错误。
不要用任何机械或化学的方法清除调校片上的脏物，测厚仪，可以用不起毛的布轻轻擦拭。
测厚范围可测定厚度范围:取决于用户的具体应用。将列表可测定的厚度范围-基本分析功能无标样检量线测厚，可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。根据客户本身应用提供必要的校正用标准样品。样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)可检测元素范围:Ti22–U92可同时测定5层/15种元素/共存元素校正组成分析时，X-RAY测厚仪，可同时测定15种元素多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析-调整和校正功能系统自动调整和校正功能:校正X射线管、探测器和电子线路的变化对分析结果的影响，自动消除系统漂移谱峰计数时，峰漂移自动校正功能谱峰死时间自动校正功能谱峰脉冲堆积自动剔除功能标准样品和实测样品间，密度校正功能谱峰重叠剥离和峰形拟合计算-测量自动化功能(要求XY程控机构)鼠标控制测量模式:"PointandShoot"多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式测量位置预览功能激光对焦和自动对焦功能-样品台程控功能(要求XY程控机构)设定测量点OneorTwoDatumn(reference)Pointsoneachfile测量位置预览
镀层分析X射线荧光光谱特点
1.镀层分析快速、无损，对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟，X射线测厚仪，分析精度高。
2.可测试超薄的镀层。
3.可测试多镀层，分析精度远远高于其他测量方法。
4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定，选择合适的对比分析样品，就可以准确的分析出合金镀层的厚度。
5.对于样品可进行连续多点测量，适合分析镀层的厚度分布情况，并可以对样品的复杂面进行测量。
6.对分析的多镀层每层之间的材料，要求有明显的区别
7.不可以测试超厚样品，普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。
8.可以对***样品进行测试
9.属于对比分析仪器，测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样
X-RAY测厚仪_测厚仪_镀层测厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司（）位于江苏省昆山市玉山镇成功路168号。在市场经济的浪潮中拼博和发展，目前一六仪器在行业专用设备中拥有较高的知名度，享有良好的声誉。一六仪器取得全网商盟认证，标志着我们的服务和管理水平达到了一个新的高度。一六仪器全体员工愿与各界有识之士共同发展，共创美好未来。
