膜厚仪的影响因素有哪些
1、基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，钟表膜厚仪，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
2、基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
膜厚仪的影响因素有哪些
1、表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，紧固件膜厚仪，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，膜厚仪，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。
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影响膜厚仪测量的的客观因素
声速选择错误。测量工件前，根据材料种类预置其声速或根据标准块反测出声速。当用一种材料校正膜厚仪后（常用试块为钢）又去测量另一种材料时，将产生错误的结果。要求在测量前一定要正确识别材料，选择合适声速。
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