常用无损探伤方法
无损探伤是无损检测(包括探伤、测量、评价)的一个重要组成部分，它是对材料、工件或组件进行非***性检测和分析，以发现材料和构件中非连续性宏观缺陷(如裂纹、夹渣、气孔等)为主要目的的检验。
无损探伤的方法种类较多，在实际应用中较普遍的为超声探伤、射线探伤、磁粉探伤、渗透探伤、涡流探伤五种常规方法.除此之外，还有红外监测、声振检测、激光全息摄影、微波探伤、同位素射线示踪等非常规探伤技术.
射线探伤(RT):射线通常指Χ射线、γ射线、α射线、β射线和中子射线等，其基本原理(图1-1)：射线在穿过物质的过程中，会受到物质的散射和吸收作用，因物体材料、缺陷和穿透距离的不同，射线强度将产生不同程度的衰减，这样，当把强度均匀的射线照射到物体的一侧，使透过的射线在物体另一侧的胶片上感光，把胶片显影后，得到与材料内部结构和缺陷相对应的黑度不同的图像，即射线底片。通过对图像的观察分析，终确定物体缺陷的种类、大小和分布情况。射线探伤适用于体积形缺陷探测。如气孔、夹碴、缩孔、疏松等，对片形缺陷检测较难。
射线照相法的特点：射线照相法的优点和局限性总结如下：
a.可以获得缺陷的直观图像，定性准确，对长度、宽度尺寸的定量也比较准确；
b.检测结果有直接记录，可长期保存；
c. 对体积型缺陷（气孔、夹渣、夹钨、烧穿、咬边、焊瘤、凹坑等）检出率很高，对面积型缺陷（未焊透、未熔合、裂纹等），如果照相角度不适当，容易漏检；
