光谱膜厚仪-测厚仪-江苏一六仪器有限公司(查看)

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

江苏一六仪器 X荧光光谱测厚仪 优点

X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统，结构简单。X射线激发源可用X射线发生器，也可用性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器。探测器和记录等与X射线荧光光谱仪相同。

X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

工业X射线镀层厚度分析仪以其快速、无损、现场测量等优点，已在冶金、建材、地质、环保、商检、考古、***等领域得到迅速推广和应用。近几年来X射线荧光仪已在工业镀层及涂层厚度测量中应用越来越广泛。众所周知，产品和金属元件表面镀层或防腐层厚度是与产品质量与性能相关的重要指标。实验表明使用同位素X射线荧光分析方法，测厚仪，能够满足工业镀层和涂层厚度的分析要求，镀层膜厚仪，并且具有无损、在线、简便快速、可实现自动控制等特点。

江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪 元素分析范围：氯（CI）- 铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

x射线荧光镀层测厚仪（国产）是一款针对金属电镀层（镀金、镀镍、镀锌、镀锡等）厚度的，通过X荧光照射出产品，每个元素反射出的二次特征谱线，通过检测器分析出强度来金属镀层的厚度，光谱膜厚仪，完全达到无损、快速分析的效果，产品广泛应用于电子电器、五金工具、电镀企业（铝平行管、电镀五金），连接器企业、开关企业等。

x射线荧光镀层测厚仪性能优势

采用高度***激光，可自动***测试高度

***激光确定***光斑，电镀膜厚仪，确保测试点与光斑对齐

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏***传感器保护

minimum φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

移动平台可***测试点，重复***精度小于0.005mm

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点x射线荧光镀层测厚仪技术参数

minimum φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

一次可同时分析多达五层镀层

度适应范围为15℃至30℃

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

分析含量一般为2ppm到99.9%