RoHS分析仪的元素含量与X射线强度的关系
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元素含量与特征X射线强度的关系
不同元素特征X射线能量各不相同，依此进行定性分析;再根据特征X射线强度大小，可进行定量分析。
可用函数关系式表示为:C=f(k1I1, k2I2, k3I3...)
式中:Kn(n=1,2,3…)表示第n号元素的待定系数
In(n=1,2,3…)表示第n号元素释放的特征X射线强度
由此可知只要通过标定确定系数Kn之后便可进行物质中元素的定量分析了。
RoHS分析仪
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能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量:
Q=kE式中，K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特征的信息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
X荧光光谱分析仪分类
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X荧光光谱分析仪分类：
X荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)。
以检测X荧光的波粒二象性中波长特征为原理的称为波长色散型，以检测能量特征为原理的称为能量色散型。
我公司生产的RoHS检测仪属于能量色散型X荧光光谱分析仪。相较波长色散型而言，它的缺点是数据精度比波长色散型低。但是操作简单，无需制样，采购与维护成本低。
