





维光学摄影测量系统,采用数字近景工业摄影测量技术(digital close-range industrialPhotogrammetry ),是便携式光学三坐标系统,用于测量物体表面的标志点和特征的三维坐标。中文名XJTUDP三维光学摄影测量系统技 术采用数字近景工业摄影测量技术用 途测量物体表面的标志点技术特点可以测量出大型物体表面的编码点目录1 产品更名2 系统简介3 系统组成4 应用范围5 技术特点6 研发情况产品更名编辑XJTUDP三维光学摄影测量系统已更名为XTDP三维光学摄影测量系统 [1]

用于对大型或超大型(几米到几十米)物体的关键点进行三维测量。与传统三座标测量仪相比,没有机械行程限制,不受被测物体的大小、体积、外形的限制,能够有效减少累积误差,提高整体三维数据的测量精度。该系统既可以单独使用,也可以与三维光学面扫描系统配合使用,能够有效地保证大型物体整体点云的拼接精度。
系统测量软件:系统测量软件安装在的台式机或笔记本电脑上。编码参考点:由一个中心点和周围的环状编码组成,每个点有自己的编号。
