背光模组LB锁附治具、广州背光模组LB锁附治具、乾进电子

fct测验治具的查验规范:　

FCT测验治具主要是对产品进行功用测验，包含测验半制品以及制品。那么我们怎么可以确保证测验治具速度快且测验数据精准，就需要了解fct测验治具的查验规范，下面跟从小编一起来详细了解下。

fct测验治具查验规范：

　1.用同一个良品在不取放的前提下重复测验10遍，背光模组LB锁附治具设计，验证治具重复测验的稳定性。

　2.用同一个良品，重复取放产品，重复测验10遍，验证夹具***的准确性及易放置性。

　3.验证治具测验成果输出成果是否正确，格局是否符合要求。

　4.查验操作按钮、电源、以及气动操控部分的安全性;

　5.查验夹具的安定性及保护措施，背光模组LB锁附治具，特别重视特别部件，例如外置光纤，MIC，主动插卡设备，转接板固定模块，压板下针模块，以及其它特别切换设备等;

fct测验治具的查验规范就共享到这儿啦，诚心期望可以帮到你。

什么是探针?

探针也称“测验针”，常用在测验治具上用于测验PCB线路板，常见的规范有39mil，50mil，广州背光模组LB锁附治具，75mil，100mil，125mil。探针外表选用镀金，内部有平均寿数3万~100万次的高性能绷簧。

探针一般用于PCB板测验时又分为绷簧针(专用针)和通用针，绷簧针在运用时，需求依据所测验的PCB板的布线状况制造测验治具，且一般状况下，一个治具只能测验一种PCB板。通用针在运用时，只需有满足的点数即可，故现在许多厂家都在运用通用针。绷簧针依据运用状况又分为PCB板探针、ICT探针、BGA探针。PCB板探针首要用于PCB板测验，ICT探针首要用于插件后的在线测验，BGA探针首要用于BGA封装测验及芯片测验。

探针的测验原理:

参数测验系统将电流或电压输入被测器材，然后丈量该器材对于此输入信号的呼应。

信号传输的途径:从测验仪经过电缆束至探针套管，然后经过探针针头至待测的焊点，到达被测器材，并***终沿原路回来测验仪器。

探针的原料:

现在首要选用的原料为W，ReW， 弹性一般，简单偏移，粘金屑，需求多次的清洗，磨损损针长，寿数一般。 A 原料的免清针，这种原料弹性较好，测验中不简单偏移，并且不粘金屑，免清洗，因而寿数较长。

决议探针寿数的要素

1、探针头部下压的深度（也就是头触摸测验点时头部下压程度。有细微触摸，有头部下压三分二和下压到底部）

2、探针下压时的速度。

3、探针下压时候的力度

4、探针的原料

常见探针品牌

1、ECT（美国）

2、INGUN（德国）

3、QA （美国）

4、IDI （美国）

5、FM （德国）

6、***（台湾）

7、国产针

探针分类

1、按用途分

1.ICT探针　（ICT series Probes)

一般直径在2.54mm-1.27mm之间，有业界的规范称号100mil，75mil，50mil，背光模组LB锁附治具生产，还有更特别的直径只要0.19mm，首要用于在线电路测验和功用测验．也称ICT测验和FCT测验．也是现在运用较多的一种探针．

2.界面探针(Interface Probes)

非规范的探针，一般是为少量做大型测验机台的客户定做的，例如泰瑞达（Teradyne)和安捷伦（Agilent)．用于测验机台与测验夹具的触摸点和面．

3.微型探针（MicroSeries Probes)

两个测验点中心距离一般为0.25mm至0.76mm．

4.开关探针（Switch Probes)

开关探针独自一支探针有两路电流．

5.高频探针（Coaxial Probes)

用于测验高频信号，有带屏蔽圈的可测验10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的．

6.旋转探针（Rotator Probes)

弹力一般不高，因为其穿透性原本就很强，一般用于OSP处理过的PCBA测验．

7.高电流探针（High Current Probes)

探针直径在2.54mm-4.75mm之间．很大的测验电流可达39amps.

8.半导体探针 (Semiconductor Probes)

直径一般在0.50mm-1.27mm之间．带宽大于10GHz，50Ω characteristic

9.电池触摸探针 (Battery and Connector Contacts)

一般用于优化触摸效果，稳定性好和寿数长．

10.轿车线束测验测验探针

***用于轿车线束通断检测，直径在1.0--3.5mm之间，电流在3----50A

除以上类型外还有温度探针，Kelvin探针等，比较少用．

2、按针头类型分

依据探针的头型不同能够分为：尖针、爪针、圆头针，平头针，杯型针等。

与探针相关的测验禁绝的原因

●探针头型误用

●针套不行笔直

●探***禁绝

●针头污染

●头钝

●探针绷簧弹力不行

●探针内部污染形成触摸不良

探针规划需考虑要素

●电阻/阻抗

◆准确性/可重复性

◆测验程序稳定性

◆形成假性开路

●针头甩尾-TIR (total indicator run-out)

◆影响准确度的要素

◆刺禁绝

●绷簧力/机械寿数

◆刺穿污染之强力绷簧

◆用于高密度区之低力绷簧 – 板弯问题

◆寿数 – 停线时间短，换针成本低

PCB技能的新趋势

●免洗制程广泛运用

●测点数大增

●测点越来越小7

●零件更难测验

查验作用的好与坏，除了前一篇所提到过的一些查验技巧之外，查验治具的选择和适合的查验设备也相反重要，所谓工欲善其事，必先利其器嘛。而如何选择查验治具?查验治具小编建议要符合下面几点条件：

　　1、剩余参数减到很小

　　2、接触电阻减到很小

　　3、接触必需能够开路/ 短路

　　4、而不同品种的元器件，固纬也供给了相对应的查验治具，以符合上述的条件，进而取得超卓的查验作用。

　　5、低电阻、高电容

　　关于低电阻和高电容的元器件，能够运用LCR-06A/B的Kelvin Clip查验线。其查验频率从DC~1MHz，很大电压可达 /-35V。

　　6、轴向、径向引脚元器件

　　若是轴向或径向引脚的元器件，可运用LCR-05和LCR-07，其查验频率规划和很大电压和LCR-06A/B相反。

　　7、贴片元器件

　　如今有相当多的使用是运用贴片式的元器件，其特点是体积十分的小，故无法运用一般的查验治具。