主动式扫描与多点触测式测头系统
扫描测量率高达500点/秒。
数据采集测力可调(50-1000mN)
ZEISS VAST XT gold：探针：长度=500mm，重量=500g（含吸盘），探针直径=0.5mm。
ZEISS VAST gold：探针：=800mm，重=600g（含吸盘），探针直径=0.3mm。
ZEISS VAST XTR gold：探针：长度（固定）=500mm，长度（旋转）=350mm，重量=500g（含吸盘），探针直径=0.5mm。
ZEISS ***-D动态旋转测座，可选配光学与接触式测头系统。
采用侧面旋转技术的动态旋转测座于两个方向均可实现±180°旋转，步距角2.5°，
空间旋转位置可达20736个。采用CAA技术，极大的节约了探针校准与检测时间。
适用于ZEISS ***-D的扫描与多点触测式测头系统。扫描测量率达150点/秒
使用TL3模块时，探针长度 = 30-150 mm；长加长杆 = 100 mm；
大探针重量 = 15 g；小探针直径 = 0.3 mm.
蔡司集团***CT产品经理延斯·汉森博士从更高分辨率、更快检测效率及更大工件应用等角度，向与会嘉宾着重阐述了中国与德国总部同步发布的METROTOM产品系列新成员CT METROTOM 800 HR及其创新特性，分享了METROTOM产品全新的扩展功能及增值附件技术优势，及于汽车、电子及增材制造等多个领域的应用案例分享，议题中覆盖了METROTOMCT、VoluMax高速CT及Xradia高分辨率X射线显微镜产品。
测量行业的大趋势，正从传统检测向数字化检测方向蜕变，作为现今的无损检测方式之一，CT检测技术融合X射线及***的图像处理技术，在研发及制造阶段的重要性日趋提升。
蔡司拥有的工业CT测量机利用X射线技术穿透产品，对结合复杂的重构算法生成点云数据，广泛应用于小型铝压铸及注塑行业产品的分析：尺寸测量、CAD数模比对、缺陷分析、反变形修模及逆向工程等。
