江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。能量色散X射线荧光光谱分析相对其他分析方法，具有无需对样品进行特别的化学处理、快速，方便，测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。
荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素量分析。但是由于影响荧光X射线的强度的因素较多，除待测元素的浓度外，仪器校正因子，待测元素X射线荧光强度的测定误差，元素间吸收增加效应校正，样品的物理形态（如试样的均匀性、厚度，表面结构等）等都对定了分析结果产生影响。（二）、各种外部结构的特点1、上照射方式用于照射(激发)的X射线是采用由上往下照射方式的设备称为上照射仪器。由于受样品的基体效应等影响较大，因此，对于标注样品要求很严格，只有标准样品与实际样品集体和表面状态相似，才能保证定量结果的准确性。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
一六仪器 X荧光光谱测厚仪
镀层分析X射线荧光光谱特点
1.镀层分析快速、无损，对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟，分析精度高。
2.可测试超薄的镀层。
3.可测试多镀层，分析精度远远高于其他测量方法。
4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定，选择合适的对比分析样品，就可以准确的分析出合金镀层的厚度。
5.对于样品可进行连续多点测量，适合分析镀层的厚度分布情况，并可以对样品的复杂面进行测量。
6.对分析的多镀层每层之间的材料，要求有明显的区别
7.不可以测试超厚样品，普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。
8.可以对样品进行测试
9.属于对比分析仪器，测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样
江苏一六仪器 X荧光光谱测厚仪 特点
快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上***的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高：由于测试过程无人为干扰因素，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种***的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。
简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。
X射线荧光光谱测厚仪定量分析
利用荧光X射线进行定量分析的时候，大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法(经验系数法)。这个方法是测定几点实际的已知浓度样品，寻求想测定元素的荧光X射线强度和浓度之间的关系，以其结果为基础测定未知样品取得荧光X射线，从而得到浓度值。
另一个方法是理论演算的基础参数法(FP法)。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提，利用计算的各个荧光X射线强度的理论值，推测测定得到未知样品各个元素的荧光X射线强度的组成一致。
