超耐高温脱模剂配方、禾川化学、脱模剂

俄歇电子能谱仪（AES）

原理：具有一定能量的电子束(或X射线)激发样品俄歇效应，通过检测俄歇电子的能量和强度，从而获得有关材料表面化学成分和结构的信息的方法。

适合分析材料:金属、高分子等材料，薄膜，涂层等

应用领域：半导体技术、冶金、催化、矿物加工和晶体生长等。

特点：在靠近表面5-20埃范围内化学分析的灵敏度高，很高的空间分辨率，超耐高温脱模剂配方，很小可达到6nm；能探测周期表上He以后的所有元素及元素分布；通过成分变化测量超薄膜厚。

二次级离子质谱仪(SIMS)

原理：通过发射热电子电离***气或氧气等离子体轰击样品的表面，玻璃脱模剂配方，探测样品表面溢出的荷电离子或离子团来表征样品成分。可以对同位素分布进行成像，表征样品成分；探测样品成分的纵向分布

适合分析材料:金属，半导体陶瓷，有机物

应用领域：物理，脱模剂，化学，微电子，生物，高温挤压脱模剂配方，制药，空间分析等工业和研究方面。

特点：

⑴对某些元素极其表面灵敏(10-6单层)；在静态模式下探测深度限制在***顶单层。

⑵可测所有元素，包括H和同位素识别。

⑶较好的横向分辨(1m)。

⑷在动态模式下同时深度剖析。

⑸在动态模式下具有探测搀杂级浓度的充分的灵敏度动态范围的技术。

⑹Cluster相对强度的有限化学信息。

紫外分光光度计：

快速、样品量少(几微克-几毫克)，特征性强(各种物质有其特定的红外光谱图)、能分析各种状态(气、液、固)的试样以及不***样品。

检测范围及检出限：

（1）可见光分光光度计：测定波长范围为400～760 nm的可见光区；

（2）紫外分光光度计：测定波长范围为200～400nm的紫外光区；

（3）红外分光光度计：测定波长范围为大于760nm的红外光区；

（4）荧光分光光度计：用于扫描液相荧光标记物所发出的荧光光谱；