复合镀层测厚仪|测厚仪|一六仪器(查看)

选择Elite（一六仪器）X射线荧光镀层测厚仪理由：

根据IPC规程，必须使用整块的标准片来校正仪器，对于多镀层的测量，目前大多数客户购买的测厚仪采用的是多种箔片叠加测量校正，比如测量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu，因为测量点很小，测量距离的变化对测量结果有较大影响，锌镍合金测厚仪，如果使用Au，Pd，Ni三种箔片叠加校正，校正的时候箔片之间是有空气，三元合金测厚仪，并且Pb元素与空气的频谱重叠，以上会对测量结果产生较大影响，Elite（一六仪器）测厚仪有电镀好的整块的Au/Pd/Ni/Base标准片，不需要几种箔片叠加校正，可以确保镀层测量的准确性。

2、采用微聚焦X射线管，油槽式设计，工作时采用油冷，长期使用时寿命更长。微聚焦X射线管配合比例接收能实现高计数率，可以进行高精度测量。

3、Elite（一六仪器）WinFTM专用软件，具有强大且界面友好、中英文切换，测厚仪，***多可同时测量23层镀层，24种元素，测量数据可直接以WORD格式或EXCEL格式输出、打印、保存。采用基本参数法（FP），有内置频谱库，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确的分析和测量。

4、 Elite（一六仪器）针对PCB（印制电路板）线路板上的镀层厚度及分析而设计的X射线荧光测厚仪（XDLM-PCB200/PCB210系列）具有以下特点：1）工作台有手动和程序控制供客户选择，2）采用开槽式设计和配置加长型样品平台，用于检测大尺寸的线路板。

上照式：通常都有Z轴可移动，所以可对形状复杂的样品（如凹面内）做***并且测试，一般可***到2mm以内的深度，如Thick800A，另外有些厂商在此基础上配备了可变焦装置，搭配***的算法，可***到80mm以内的深度，如XDL237

下照式：通常都没有Z轴可移动，所以不可对凹面等无法直接接触测试窗口的位置进行***并测试，但操作简单，造价相对低；部分厂商或款式仪器搭载变焦装置也可测试复杂形状样品，同时也抬高了价格

能量色散X荧光光谱仪定义及原理

X射线荧光光谱仪是一种可以对多元素进行快速同时测定的仪器。试样受X射线照射后，其中各元素原子的内壳层（K，复合镀层测厚仪，L或M层）电子被激发逐出原子而引起电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线荧光。每一种元素都有其特定波长的特征X射线。能散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）利用荧光X射线具有不同能量的特点，由探测器本身的能量分辨本领来分辨探测到的X射线。